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32工位高通量XRF檢測儀(XRF-S32)2
  • 32工位高通量XRF檢測儀(XRF-S32)2
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更新時間:2024-06-23 21:00:06

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產品簡介:32工位高通量XRF檢測儀(XRF-S32)是一款高通量XRF檢測儀,可一次檢測32個樣品,縮短整個測試實驗周期

產品簡介: 

       32 工位高通量 XRF 檢測儀(XRF-S32)是一款高通量 XRF 檢測儀, 可一次檢測 32 個樣品,縮短 整個測試實驗周期。 該系統主要由手持式 XRF 檢測儀、二軸運動平臺、 32 工位樣品臺以及遠程筆記本控 制系統四部分組成, 具有高的靈敏度,可以在極低濃度下(ppm 級) 快速簡單的測量出樣品中所含的各元 素(Ne  Pu)。可廣泛應用于高通量方法進行合金材料成分分析篩選、高熵合金、新型磁性材料以及固 態陶瓷電解質材料等的分析研究中

產品型號

32 工位高通量 XRF 檢測儀

主要特點

1 、該系統由手持式 XRF 檢測儀、 二軸運動平臺以及 32 工位樣品臺以及遠程筆記本控制 系統四部分組成

 

2 XRF 檢測儀可通過 USB 數據線與電腦連接,確保實驗人員可以在安全的距離上操作

 

3 、一次最多可放置 32 個樣品,實現高通量的材料成分檢測

 

4 、設置有 X 射線指示燈,觀察窗口采用鉛玻璃材質, 確保 X 射線的安全使用

 

 

XRF 檢測儀

 

1 、手持式 XRF 檢測儀,結構小巧,操作簡便

 

2、具有安全聯鎖結構, 避免 X 射線的意外泄露

3 USB 數據線與電腦連接在安全距離處進行檢測,保證操作人員的安全(圖 2

軟件控制

 

 

筆記本電腦中包含預先安裝好的 X 射線源控制軟件, 探測器控制軟件以及光譜分析軟件 用于儀器各部分的控制和數據分析

強大的 XRF 控制系統以及光譜分析軟件可以進行測量的定制和優化, 特別適用于研究復 雜樣品和未知樣品

光譜分析軟件可用于樣品的定性和定量分析

 

樣品一般為塊體或薄膜

 

可對空氣中的衰減和吸收進行完整的校正

可對 55 種元素進行實時分析

可選擇自動模式進行連續或重復性的分析

二軸運動平臺

 

觸摸屏顯示控制,操作方便

檢測時間(轉換工位停留時間) X-Y 軸移動速度、結束工位等參數可調, 實現自動換

 

         

 

                                                       

搭配 32 工位樣品臺可進行高通量材料成分檢測

32 工位樣品臺

 

 

 

樣品可放置于 32 工位樣品臺上

 

樣品臺與二軸運動平臺搭配使用,實現高通量材料成分檢測(如下圖)

技術參數

電源: 220V AC  50/60Hz,單相

產品規格

尺寸: 1000×800×1000mm;重量: 120kg

注意事項

前門觀察窗口采用鉛玻璃材質, 可衰減 X 射線強度,檢測時需關閉前門,起到防護作用

建議 XRF 檢測時遠離箱體 36cm 進行操作

質量認證

CE 認證

 

符合 WEEE 指令、 EMC 指令、 RoHs (中國) FCC (美國) 以及 ICES-001 (加拿大) 等各項認證

 

 

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