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32工位高通量XRF檢測儀(XRF-S32)3
  • 32工位高通量XRF檢測儀(XRF-S32)3
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更新時間:2024-06-23 21:00:06

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產品簡介:32工位高通量XRF檢測儀(XRF-S32)是一款高通量XRF(X射線熒光光譜分析)檢測儀,可一次檢測多達32個樣品,縮短多個樣品檢測時的測試周期

產品簡介:

      32工位高通量XRF檢測儀(XRF-S32)是一款高通量XRF(X射線熒光光譜分析)檢測儀,可一次檢測多達32個樣品,縮短多個樣品檢測時的測試周期。該系統主要由手持式XRF檢測儀、二軸運動平臺、32工位樣品臺以及遠程筆記本控制系統四部分組成,具有高的靈敏度,可以在樣品元素含量在極低濃度的條件下(ppm級)快速簡單的測量出樣品中所含的各元素(Ne到Pu)。32工位高通量XRF檢測儀可廣泛應用于合金材料成分分析及篩選過程、高熵合金成分分析、新型磁性材料以及固態陶瓷電解質材料等材料的分析研究當中去。

產品型號

32工位高通量XRF檢測儀

主要特點

 

1、該系統由手持式XRF檢測儀、二軸運動平臺以及32工位樣品臺以及遠程筆記本控制系統四部分組成

2、XRF檢測儀可通過USB數據線與電腦連接,確保實驗人員可以在安全的距離上操作

3、一次最多可放置32個樣品,實現高通量的材料成分檢測

4、設置有X射線指示燈,觀察窗口采用鉛玻璃材質,確保X射線的安全使用

XRF檢測儀

 

1、手持式XRF檢測儀,結構小巧,操作簡便

2、具有安全聯鎖結構,避免X射線的意外泄露

3、USB數據線與電腦連接在安全距離處進行檢測,保證操作人員的安全

軟件控制

 

筆記本電腦中包含預先安裝好的X射線源控制軟件,探測器控制軟件以及光譜分析軟件用于儀器各部分的控制和數據分析

強大的XRF控制系統以及光譜分析軟件可以進行測量的定制和優化,特別適用于研究復雜樣品和未知樣品

光譜分析軟件可用于樣品的定性和定量分析

         樣品一般為塊體或薄膜

         可對空氣中的衰減和吸收進行完整的校正

         可對55種元素進行實時分析

         可選擇自動模式進行連續或重復性的分析

二軸運動平臺

 

觸摸屏顯示控制,操作方便

檢測時間(轉換工位停留時間)、X-Y軸移動速度、結束工位等參數可調,實現自動換樣

搭配32工位樣品臺可進行高通量材料成分檢測      

32工位樣品臺

 

樣品可放置于32工位樣品臺上

樣品臺與二軸運動平臺搭配使用,實現高通量材料成分檢測

技術參數

電源:220V AC ,50/60Hz,單相

產品規格

尺寸:1000×800×1000mm;重量:120kg

注意事項

前門觀察窗口采用鉛玻璃材質,可衰減X射線強度,檢測時需關閉前門,起到防護作用

建議XRF檢測時遠離箱體900px進行操作

 

 

 

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