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產品介紹
賽默飛 iCAP X 系列 ICP-MS（電感耦合等離子體質譜儀） 是一款高性能的分析儀器，廣泛應用于環境、材料科學、食品安全和生命科學等領域。它的核心組件之一——截取錐（Skimmer Cone） 是 ICP-MS 系統的重要組成部分，直接影響到儀器的性能、檢測靈敏度以及長期穩定性。本文將對賽默飛 iCAP X 系列 ICP-MS 截取錐的設計、功能以及優勢進行詳細介紹。
賽默飛3600811 iCAP X質譜儀截取錐：截取錐的結構與功能
截取錐是 ICP-MS 儀器中離子引出系統的一部分，通常與采樣錐（Sampling Cone）配合工作。采樣錐將高溫等離子體引導進入抽真空區域，而截取錐則進一步精確調控離子流，并分離出分析所需的離子，從而保證質量分析的高分辨率和低背景噪聲。
截取錐在整個 ICP-MS 系統中扮演了以下幾個關鍵角色：
離子提取與聚焦
截取錐位于采樣錐之后，通過其中心的小孔將離子束進一步收束并導入后續的四極桿質量分析儀。截取錐的孔徑、錐角以及材料特性直接決定了離子提取的效率和靈敏度。去除中性顆粒與干擾物質
截取錐能夠有效過濾掉中性顆粒和多余的干擾物質，僅允許特定范圍的離子通過。其過濾作用能夠顯著降低噪聲干擾，提升檢測信號的純凈度。維持真空環境
截取錐連接等離子體高壓區和質量分析低壓區，通過精確的設計保證兩者之間的穩定壓力差，為質量分析提供適宜的工作環境。
賽默飛 iCAP X 系列截取錐的特點
1. 高性能材料
賽默飛 iCAP X 系列的截取錐通常采用高純度鉑合金或鎳材料制成。這些材料具有耐高溫性能、化學穩定性和抗腐蝕性，能夠長時間承受高溫等離子體的沖擊，延長使用壽命。
鎳錐：性價比高，適用于常規分析。
鉑合金錐：耐腐蝕性強，適合高鹽或高腐蝕性樣品。
2. 優化的幾何設計
iCAP X 系列截取錐采用了精確計算的錐角和孔徑設計，使離子聚焦更加高效，最大限度減少信號損失和離子散射。其幾何形狀能夠適應多種類型的樣品，提高多元素分析的靈敏度和穩定性。
3. 高通量與低干擾
在多樣品分析中，截取錐的通量和抗干擾性能尤為關鍵。賽默飛 iCAP X 截取錐能夠在高樣品通量條件下保持良好的信號穩定性，同時通過過濾減少干擾離子進入質譜系統，為復雜基質樣品提供分析結果。
4. 易于更換和維護
賽默飛 iCAP X 系列的截取錐采用模塊化設計，便于用戶快速更換和清潔。其兼容性和可重復性，能夠有效減少操作時間，提高實驗室的工作效率。
應用優勢
1. 提高靈敏度和檢測限
截取錐的高效離子提取能力能夠顯著提高分析靈敏度，使得 iCAP X 系列 ICP-MS 能夠檢測到更低濃度的元素。其在痕量金屬和超痕量元素分析中的表現尤為突出，例如在飲用水、食品安全和醫藥檢測中的應用。
2. 降低基體效應
在復雜基質（如高鹽、礦物、或有機溶劑樣品）的分析中，截取錐的高耐腐蝕性和強抗干擾性能顯得尤為重要。通過有效減少基體干擾，iCAP X 系列 ICP-MS 能夠提供更加準確可靠的分析結果。
3. 支持多元素同時分析
賽默飛的截取錐設計經過優化，能夠最大限度地提高多元素同時檢測的效率，廣泛適用于地質樣品、材料科學和環境研究等需要快速多元素檢測的領域。
4. 延長儀器壽命
得益于耐用的材料和優化的設計，截取錐能夠減少污染和腐蝕對儀器的損害，從而延長 ICP-MS 的整體使用壽命，降低實驗室運營成本。
維護與注意事項
為了保證截取錐的長期穩定性和高效性能，用戶在日常維護中需要注意以下事項：
定期清潔
截取錐表面容易積累樣品中的鹽類和雜質，應定期清潔以維持孔徑的暢通和材料表面的完整性。建議使用專用清潔劑或超聲波清洗儀。避免機械損傷
截取錐的孔徑極為精細，在拆卸和清潔時需小心操作，避免因過度用力或碰撞造成的變形或破損。根據樣品類型選擇合適材料
在分析高鹽或腐蝕性強的樣品時，建議使用鉑合金錐以提高耐用性。對于常規樣品分析，可選擇性價比較高的鎳錐。及時更換耗材
當截取錐因長期使用而導致性能下降或孔徑磨損時，應及時更換，以確保分析的準確性和儀器的正常運行。
賽默飛3600811 iCAP X質譜儀截取錐結語
作為賽默飛 iCAP X 系列 ICP-MS 的核心部件之一，截取錐的設計與性能直接影響到整個儀器的分析效果。其高性能材料、優化的幾何結構以及抗干擾能力，使其在痕量元素分析中表現出色，為各類復雜樣品提供了可靠的解決方案。通過合理維護和正確使用，用戶可以充分發揮截取錐的性能優勢，確保 iCAP X 系列 ICP-MS 的長期穩定運行。
賽默飛 iCAP X 截取錐的高質量設計和靈活適應性，使其成為科研工作者和實驗室技術人員的理想選擇，為科學分析提供了強有力的支持。
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