美國BH貝克休斯超聲探頭
用于接觸式檢測方法的探頭傳感器
直探頭-單晶
•工件形狀規則，檢測面相對光滑
•適用于平面或帶曲率接觸面
•缺陷或底面與接觸面平行
•用于檢測厚度較大的工件
•延遲塊探頭能提高近表面分辨力
•需要耦合劑
•日常檢測常用探頭
直探頭直通波束 - 雙晶片 (TR)
•通過隔聲層使發射與接收晶片獨立分開
•缺陷或底面與接觸面平行
•用于檢測厚度較小工件
•需要耦合劑
•日常檢測常用探頭
坡度波束斜探頭
•斜探頭晶片與楔塊一體或可拆卸
•橫波或縱波以特定角度入射
•常用的斜探頭為橫波探頭
•檢測與入射聲束垂直的缺陷
•有單晶與雙晶斜探頭
•需要耦合劑
•有時用于掃查器或自動掃查
用于浸入式方法的傳感器
水浸探頭的設計目的是與水楔配合使用，或者在被檢工件部分或全部浸入水中時，在水浸箱中進行檢測。這類探頭屬縱波探頭，但經過設置后，使用Rexolite楔塊可以進行折射橫波檢測。
優勢特性
其聲阻抗與水匹配
可裝配到水楔上，以更方便地耦合到多種表面，且其水中聲程可調（當被檢工件不能浸沒到水箱中時）。
線性掃查可以覆蓋30毫米到90毫米的距離，且檢測的準確性非常高。
耐腐蝕不銹鋼外殼
可保證在水下1米深的位置具有防水性
典型應用
對（鋼、鋁或其他材料制成的）薄板或管子進行檢測
對復合材料進行檢測，探測出分層和脫粘等缺陷
在線厚度測量
自動掃查
水浸探頭浸入式傳感器
•通過水耦合達到最佳耦合效果
•用于結構較規則工件
•常用于自動檢測系統
•耦合效果穩定一致，檢測結果可重復性好
•可用于掃查架，噴水式檢測
•可以通過聚焦提高靈敏度和分辨力
聚焦水浸探頭入式傳感器
•點聚焦模式
•線聚焦模式
聚焦優勢
提高對小缺陷的敏感檢測靈敏度
美國BH貝克休斯超聲探頭
傳感器探頭選擇標準 -北美標準
根據美國標準制造的探頭，Baker Hughes Inspection Technologies 提供三種系列探頭： Alpha、Benchmark， 和 Gamma 系列。 所有探頭均根據 ASTM E-1065標準進行測試，測試報告提供波形和頻譜等相關信息。
•建議用于對檢測分辨率有較高要求的檢測應用。
•適用于對分辨力要求高的厚度測量和近表面缺陷檢測等應用。
•脈沖非常短，達到目前探頭技術極限。
•靈敏度通常低于 Gamma 和 Benchmark 系列探頭。
•帶寬 - 典型的 6 dB 帶寬范圍為 50％ 至 100％。
•典型的 Alpha 波形（右圖）通常只有一到兩個完整的回波周期
Benchmark 系列探頭功能
•晶片使用特殊BENCHMARK COMPOSITE 壓電復合材料。
•對高衰減材料的穿透性遠優于傳統探頭。
•對粗晶粒金屬材料、碳纖維增強復合材料檢測具有高信噪比。
•回波脈沖短 - 分辨率通常優于 Gamma 系列。
•靈敏度通常高于 Gamma 和 Alpha 系列探頭。
•高帶寬 - 典型的 6 dB 帶寬范圍為 60％ 至 120％。
•晶片低聲阻抗提高了斜探頭、延遲探頭和水浸探頭的性能，與塑料和水的聲阻抗匹配效果好。
Gamma 系列功能
•常用探頭，適用于大多數日常檢測應用要求。
•中脈沖、中阻尼 – 靈敏度和分辨率的優化組合。
•電子匹配性能確保較高的檢測靈敏度，牲犧一定分辨力
•中帶寬 - 典型的 6 dB 帶寬范圍為 30％ 至 50％。
•典型的 Gamma 波形會顯示三到四個完整回波周期，取決于探頭頻率、探頭直徑和其他參數。
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