亚洲AV成人片无码网站玉蒲团,男人10处有痣是富贵痣,AV亚洲欧洲日产国码无码苍井空,日韩午夜欧美精品一二三四区

大昌洋行(上海)有限公司(大昌華嘉科學(xué)儀器部)

PRODUCT DISPLAY

當(dāng)前位置:大昌洋行(上海)有限公司(大昌華嘉科學(xué)儀器部)>>材料科學(xué)>>Zeta電位及納米粒度分析儀>> Nanotrac wave II納米粒度及zeta電位儀

納米粒度及zeta電位儀

參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào):Nanotrac wave II

品       牌:Microtrac/麥奇克

廠商性質(zhì):代理商

產(chǎn)品資料:下載

所  在  地:上海市

收藏
舉報(bào) 評(píng)價(jià)

更新時(shí)間:2024-11-04 10:28:30瀏覽次數(shù):24764次

聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)
產(chǎn)地類別 進(jìn)口 分散方式 干濕法分散
價(jià)格區(qū)間 面議 儀器種類 顆粒圖像分析儀
應(yīng)用領(lǐng)域 綜合
NANOTRAC WAVE II采用優(yōu)良的“Y"型光纖探針光路設(shè)計(jì),配置膜電極產(chǎn)生微電場(chǎng),操作簡(jiǎn)單,測(cè)量迅速,無(wú)需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層,無(wú)需外加大功率電場(chǎng),無(wú)需更換分別用于測(cè)量粒度和Zeta電位的樣品池,*消除由于空間位阻(不同光學(xué)元器件間的傳輸損失,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差異,分散介質(zhì)的影響,顆粒間多重散射等)帶來(lái)的光學(xué)信號(hào)的損失,結(jié)果準(zhǔn)確可靠,重現(xiàn)性好。

納米粒度測(cè)量——優(yōu)良的動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)

Zeta電位測(cè)量:Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨(dú)到見(jiàn)解,經(jīng)過(guò)多年的市場(chǎng)調(diào)研和潛心研究,開(kāi)發(fā)出新一代NANOTRAC WAVE II微電場(chǎng)分析技術(shù),融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測(cè)量于一體,無(wú)需傳統(tǒng)的比色皿,一次進(jìn)樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比,NANOTRAC WAVE II采用優(yōu)良的“Y"型光纖探針光路設(shè)計(jì),配置膜電極產(chǎn)生微電場(chǎng),操作簡(jiǎn)單,測(cè)量迅速,無(wú)需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層,無(wú)需外加大功率電場(chǎng),無(wú)需更換分別用于測(cè)量粒度和Zeta電位的樣品池,*消除由于空間位阻(不同光學(xué)元器件間的傳輸損失,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差異,分散介質(zhì)的影響,顆粒間多重散射等)帶來(lái)的光學(xué)信號(hào)的損失,結(jié)果準(zhǔn)確可靠,重現(xiàn)性好。


測(cè)量原理:

粒度測(cè)量:動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理

Zeta電位測(cè)量:膜電極設(shè)計(jì)與“Y"型探頭形成微電場(chǎng)測(cè)量電泳遷移率

分子量測(cè)量:水力直徑或德拜曲線


光學(xué)系統(tǒng):

3mW780nm半導(dǎo)體固定位置激光器,通過(guò)梯度步進(jìn)光纖直接照射樣品,在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號(hào),無(wú)需校正光路


軟件系統(tǒng):

優(yōu)良的FLEX軟件提供強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力,包括圖形,數(shù)據(jù)輸出/輸入,個(gè)性化輸出報(bào)告,及各種文字處理功能,如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據(jù),Microsoft Access格式(OLE)等。體積,數(shù)量,面積及光強(qiáng)分布,包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,包括口令保護(hù),電子簽名和指定授權(quán)等。


外部環(huán)境:

電源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz

環(huán)境要求:溫度,10-35°C

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):符合ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008


主要特點(diǎn):

• 采用優(yōu)良的動(dòng)態(tài)光散射技術(shù),引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法

• “Y"型光纖光路系統(tǒng),通過(guò)藍(lán)寶石測(cè)量窗口,直接測(cè)量懸浮體系中的顆粒粒度分布,在加載電流的情況下,與膜電極對(duì)應(yīng)產(chǎn)生微電場(chǎng),測(cè)量同一體系的Zeta電位, 避免樣品交叉污染與濃度變化。

• 異相多譜勒頻移技術(shù),較之傳統(tǒng)的方法,獲得光信號(hào)強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí),提高分析結(jié)果的可靠性。

• 可控參比方法(CRM),能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,確保分析的靈敏度。

• 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì),減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,保證高濃度溶液中納米顆粒測(cè)試的準(zhǔn)確性。

• 快速傅利葉變換算法(FFT,F(xiàn)ast FourierTransform Algorithm Method),迅速處理檢測(cè)系統(tǒng)獲得的能譜,縮短分析時(shí)間。

• 膜電極設(shè)計(jì),避免產(chǎn)生熱效應(yīng),能準(zhǔn)確測(cè)量顆粒電泳速度。

• 無(wú)需比色皿,毛細(xì)管電泳池或外加電極池,僅需點(diǎn)擊Zeta電位操作鍵,一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果

• 消除多種空間位阻對(duì)散射光信號(hào)的干擾,諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失,樣品池位置不同帶來(lái)的誤差,比色皿器壁的折射與污染,分散介質(zhì)的影響,多重散射的衰減等,提高靈敏度。

產(chǎn)品參數(shù)
粒度分析范圍0.3nm-10µm
重現(xiàn)性誤差≤1%
濃度范圍100ppb-40%w/v
檢測(cè)角度180°
分析時(shí)間30-120秒
準(zhǔn)確性全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子
測(cè)量精度無(wú)需預(yù)選,依據(jù)實(shí)際測(cè)量結(jié)果,自動(dòng)生成單峰/多峰分布結(jié)果
理論設(shè)計(jì)溫度0-90℃,可以進(jìn)行程序升溫或降溫
兼容性水相和有機(jī)相





同類優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品

納米粒度及zeta電位儀

型號(hào):Nanotrac wave II 參考價(jià): ¥面議
熱門推薦

納米粒度分析儀

型號(hào):Nanotrac Flex 參考價(jià): ¥面議
熱門推薦

ZETA電位分析儀

型號(hào):STABINO ZETA 參考價(jià): ¥面議
熱門推薦

電聲法Zeta電位分析儀

型號(hào):ZetaProbe™ 參考價(jià): ¥面議
熱門推薦

會(huì)員登錄

×

請(qǐng)輸入賬號(hào)

請(qǐng)輸入密碼

=

請(qǐng)輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏!
標(biāo)簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
撥打電話 產(chǎn)品分類
在線留言