從1953年至今,菲希爾公司不斷地在涂鍍層測 厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領域發 展出創新型的測量技術。如今,菲希爾的測量技 術已在世界各地得到應用,滿足客戶對儀器準確 度、精度和可靠性的要求。 作為在生產測量中使用X射線熒光法的,菲 希爾很早就意識到此方法在鍍層厚度測量和材料 分析領域的巨大潛力,因而開始研發和制造工業 級耐用的測量儀器。*一臺菲希爾X射線儀器在 二十世紀八十年代初就已面世。 從那時起,菲希爾不斷改進和研發X射線熒光技 術,使得該項技術在今天居于**地位。其中的 一個例子是透明的狹縫設計,從而使用戶可以與 基本射線同方向查看樣品。另外,打開儀器艙門 自動彈出測量平臺(“彈出功能”)也是*次由 菲希爾實現的。在軟件方面,菲希爾是*個使用 *基本參數法來計算光譜的公司。 | 菲希爾在生產過程實行嚴格的質量標準控制,在 對零部件進行苛刻的檢驗,確保菲希爾X射線儀 器有著很高的高可靠性。 目前,有超過10000臺X射線儀器投入使 用,而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成為強 大,可靠和耐用的X射線熒光測量設備的代名詞 的工業制造和科學研究都依賴于這些可靠且 精確的儀器設備。菲希爾一貫以持續的研發、先 進的設備和創新的軟件來迎接挑戰。因為只有經 過精心構思設計和按照高標準制造的產品,終 才能有很好的工作性能。也只有這樣的產品才能 配得上菲希爾的品牌。菲希爾是您可信賴的品 牌。 |
X射線熒光分析法 (XRFA)
能量散射X射線熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層 | EDXRF作為一種常用測試方法,有著其突出的優 勢。它幾乎可以測量所有工藝相關元素,并且工 作時無損且不接觸樣品。測量時間一般在數秒鐘 內,很少多于一分鐘。通常不需要復制的樣品制 備,即可進行快速測量。利用該方法,可以同時 測量均質材料及鍍層的厚度和化學成分。不僅如 此,EDXRF方法檢測各種類型樣品里的微量有害 物質。 此外,X射線熒光分析是一種清潔的測量方法, 測量過程不使用任何化學制品。由于有著合理精 巧的設計,X射線不會對操作人員和環境構成任 何威脅:菲希爾X射線儀器是安全可靠的。 |
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