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激光+圖像二合一的粒度粒形分析系統可實現一機兩用

來源:丹東百特儀器有限公司   2022年11月11日 09:01  
激光粒度儀是通過顆粒的衍射或散射光的空間分布(散射譜)來分析顆粒大小的儀器,采用Furanhofer衍射及Mie散射理論,測試過程不受溫度變化、介質黏度、試樣密度及表面狀態等諸多因素的影響,主要將待測樣均勻地展現于激光束中,即可獲得準確的測試結果。

Bettersize3000Plus激光圖像粒度粒形分析儀是一種激光+圖像二合一的粒度粒形分析系統。它的激光散射系統為雙鏡頭斜入射光學系統,成像系統為動態雙路遠心顯微成像系統,可同步進行粒度和粒形分析,實現了一機兩用。
 
雙鏡頭斜入射光學系統是由大功率泵浦偏振激光器、進口.鏡頭組、石英樣品池和全角度光電探測器陣列組成。由于采用了高性能的鏡頭和獨.特的激光斜入射結構,在單光束條件下實現了全角度散射光信號的接收——這是百特原創的專.利技術。這種技術不僅達到了進口儀器的用多光束技術來擴大散射光角度的效果,還避免了多光束技術造成的間斷散射光信號的連接偏差和多波長造成的樣品折射率偏差,使測試結果更準確,同時實現了對納米、微米甚至毫米級樣品的準確粒度測試。由于探測器數量多和結構獨.特,該儀器具有超.強分辨單峰、雙峰和多峰樣品的能力。同時,該儀器還具有樣品折射率測量技術、自動對中技術、防干燒超聲波分散技術、SOP技術、大功率短波長偏振光技術等,進一步保證了重復性、準確性和分辨力。
 
動態雙路遠心顯微成像系統并聯在激光散射系統中,可隨時拍攝流動中的顆粒圖像并同時進行粒形分析,在得到粒度分布的同時,還能同時得到圓形度、長徑比、粗糙度等粒形參數。更重要的是,這個顯微成像系統能準確捕捉到樣品中的最大顆粒,實現了D100的有效測量,彌補了激光粒度儀無法測試D100的缺憾,為鋰電池等領域提供了準確測試D100的可靠手段。
 
Bettersize3000Plus激光圖像粒度粒形分析儀還批量出口到美國、德國、巴西、韓國、俄羅斯等十幾個國家和地區。2019年下半年,Bettersize3000Plus參加了德國聯邦材料研究和測試研究所舉辦的實驗室間“激光散射法測定陶瓷粉末粒度"的比對測試活動。在與43個實驗室送檢的國際品牌儀器的PK中,Bettersize3000Plus的所有樣品的測試結果都在允許公差范圍內,以*的比測成功率穩居*一集團,受到歐洲顆粒界的矚目。
 
Bettersize3000Plus激光圖像粒度粒形分析儀還具有折射率測量技術、自動測試技術、自動進水、自動排水、自動消除氣泡、自動清洗技術、顆粒圖像快速識別技術、樣品復配技術等,綜合性能達到或超過進口儀器水平,特別適合大企業、高校、研究院所等實驗室。

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