產(chǎn)品名稱：輝光放電光譜儀

    產(chǎn)地：法國

    型號(hào)：GD-Profiler 2™

01 儀器用途及應(yīng)用范圍：

GD-Profiler 2™ 配備的射頻源可在脈沖模式下對(duì)易碎樣品進(jìn)行測(cè)試，廣泛應(yīng)用于高校以及工業(yè)研究實(shí)驗(yàn)室，其應(yīng)用范圍有腐蝕研究、PVD 涂層工藝控制、PV 薄膜開發(fā)以及LED 質(zhì)量控制等。

能源/光伏

光伏鍍層沉積工藝

光伏鍍層層間擴(kuò)散

光伏電池的表面及成分

快速深度剖析

先進(jìn)功能材料

LED 晶片質(zhì)量控制

半導(dǎo)體新材料鍍層解析

硬盤、玻璃和陶瓷等表面鍍層分析

鍍鋅鋼板鍍層厚度及成分

彩涂板有害元素測(cè)定

監(jiān)控滲氮滲碳工藝過程

磷化/ 鈍化膜測(cè)定等

電池

鋰電池電極/ 電解液材料表征分析

充/ 放電后元素濃度變化

監(jiān)控電池壽命

專利UFS（超快速濺射）系統(tǒng)用于

負(fù)極分析

半導(dǎo)體材料

LED 晶圓鍍層結(jié)構(gòu)質(zhì)控及研發(fā)

VCSEL 芯片鍍層分析

微電子器件鍍層結(jié)構(gòu)分析

逆向工程

02 產(chǎn)品特點(diǎn)：

光譜范圍涵蓋110 nm-800 nm

光譜分辨率低至18 pm~25 pm

專利高動(dòng)態(tài)檢測(cè)器HDD（線性動(dòng)態(tài)范圍可達(dá)5X109） 

專利鍍層厚度測(cè)試附件DIP

獨(dú)有0.64m 單色儀（選配）可提高設(shè)備靈活性，用于全光譜掃描及N+1 通道

軟件集成了標(biāo)準(zhǔn)樣品、譜線波長和濺射速率的數(shù)據(jù)庫

03 索取樣本、聯(lián)系報(bào)價(jià)

如果您想了解更多關(guān)于產(chǎn)品儀器信息、索要儀器報(bào)價(jià)，歡迎掃描二維碼留言，我們的工程師將會(huì)及時(shí)與您取得聯(lián)系。

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