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densoku電解式測厚儀的原理及特點

來源:深圳市秋山貿(mào)易有限公司   2022年12月23日 14:18  

densoku電解式測厚儀的原理及特點

電解膜厚度測量原理

鍍膜厚度是通過陽極電解法溶解鍍膜來測量的,這是一種應(yīng)用規(guī)則測量鍍層厚度的方法 (陽極電解電路見圖1)在鍍膜結(jié)束時,由于測量部分被恒定電流溶解,膜金屬消失,當(dāng)基體金屬出現(xiàn)時,陽極電壓發(fā)生變化,并且檢測到此電壓變化以結(jié)束測量。(見圖二)

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電解膜測厚儀的特點

  • 雖然是破壞型測量,但可以通過簡單的測量來測量,也可以測量多層電鍍。

  • 可測量雙鎳、三鎳各層膜厚及電位差

  • 可以分別測量銅鍍錫時形成的純錫層和合金層的厚度。

  • 可以測量 X 射線無法測量的厚多層鍍層(最大 300 μm)

  • 通過使用線測試儀,可以測量細(xì)線的電鍍膜厚度。

使用示例

  • 鍍錫線(鍍錫銅線)純錫層厚度測量

  • 汽車外飾件用Cr/Ni/Cu三層鍍層測量,鍍Ni用
    雙鎳/三鎳電位差測量

  • 與非破壞性薄膜測厚儀的測量結(jié)果進(jìn)行交叉檢查


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