金屬絲的方向效應是由來已久的挑戰！由于受金屬探測器線圈的幾何形狀和金屬污染物方向的影響，檢測像電線、斷針、大頭針和機械刨屑這類金屬異物是很有挑戰性的。如下圖所示，假設一根銅絲長度方向與輸送方向垂直穿過探測孔，對于電場來說這根金屬絲的橫截面是最大，感應到的信號很大，檢測很容易。當銅絲長度方向與輸送方向相同穿過探測孔，對于電場來講其橫截面很小，感應到的信號很小，檢測很難。這就是為什么刀片會流到消費者手里的原因。

為了克服金屬絲漏檢的挑戰，傳統解決方案是用二臺金屬探測器，成90度夾角來克服金屬絲的方向性漏檢問題。由于二臺金屬探測器靠的很近，如果采用相同工作頻率就會相互干擾，而產生誤報，因此，最徹底的解決方案應該是用一臺金屬探測器幾個頻率同步掃描。

賽默飛世爾科技研發出了采用多頻同步掃描技術的金屬探測器。多頻同步掃描技術同時使用五個工作頻率，金屬污染物在每個工作頻率下產生獨特的響應。這就像擁有五個合為一體的獨立金屬探測器一樣，每臺探測器都能以不同的頻率來尋找污染物。當一個長條形污染物的方向在一個頻率上的響應很弱時，它在另一個不同的頻率上會有更強的響應，從而增加污染物被檢測到的概率。在高產品效應的食品檢測中多頻掃描技術的優勢尤為明顯，而這些應用也是烘焙行業中金屬探測器最具挑戰性的應用。

不要以為月餅或面包是“干”產品，沒有產品效應，其實面包類產品含有水分和鹽分，具有弱導電性，會干擾金屬探測器檢測，有產品效應，屬于“濕”產品，產品具有導電性或導磁性。

Sentinel金屬探測器，通過五個頻率同步掃描，完美地克服固定單個頻或雙頻金屬探測器對于鐵、銅、鋁和不銹鋼漏檢問題。無論檢測產品不同位置、溫度變化或者工廠濕熱和電源干擾環境如何，采用Sentinel金屬探測器，面包、玉米餅或蛋糕這樣的“潮濕”產品(產品導電性類似不銹鋼)能夠將檢出率提高25％以上，將誤剔除率降低至零，并且大大降低在線檢測設備的投資成本。

當有效應的產品經過金屬探測器時，就如同有一個弱導電物質經過電磁場。這一弱導電物質以不同的角度穿過金屬探測器時，引起的信號值相位角差不同。Sentinel金屬探測器通過相位角跟蹤功能，避免了產品在移動過程中位置變化對檢測靈敏度造成的影響。

應用IXR電磁信號智能跟蹤技術有助于應對與傳統相位消除產品效應的檢測挑戰，尤其是含水和導電產品。IXR技術通過實時讀取產品的導電和導磁正弦波乘積，減去合格產品的導電和導磁正弦波乘積以取消產品波形；也就是發現并且抵消X(導磁性)和R(導電性)產品信號，僅留下需探測的金屬污染物。因此，產品效應大幅度減小，使得金屬探測器能夠輕松檢測尺寸較小的污染物。

采用 IXR 技術消除產品效應和不同尺寸鐵信號

異物檢測設備包括二大類產品：金屬探測器和X射線檢測機。

Sentinel金屬探測器采用多線圈專利技術，使得開口處(接收線圈)的磁通量更加穩定，一般場合只需中頻(300kHz)達到高頻(800kHz)的檢測靈敏度，非磁性金屬(銅、鋁和不銹鋼 316L)減弱磁場的影響降低，從而接收信號電壓變化幅度增大，更小的銅和不銹鋼316L檢測到。在原有基礎上提高20%的檢測靈敏度。最高速度可達1000米/分鐘，最低速度可在0.5米/分鐘時，保持相同的靈敏度。

當包裝材料為金屬鍍膜時，由于其弱導電性使得產品相位角與不銹鋼類似，采用金屬探測器只能檢測到較大直徑的不銹鋼球。如果包材是鋁膜、錫紙甚至于是馬口鐵罐時，要檢出鋁、銅和不銹鋼316L異物，只能采用X射線檢出機。

NextGuard X射線檢出機的核心技術采用X射線檢測原理：X射線穿過產品，由X射線探測元件，對X射線的吸收量來判斷，是否在烘焙中存在比產品本身密度大的雜質。如果產品中某種異物的密度大，那么將會探測到局部減少的接受能量，不符合要求的產品即從生產線上剔除出去。

月餅中驚現塑料片的原因是因為塑料片密度非常接近月餅的密度。需要采用低電壓和大電流的X光發射源，并且結合X光高感光度的探測器，才能掃描和分辨出低密度的塑料片。賽默飛的X射線檢出機能在蠟燭光下，20厘米處掃描出清晰的X光圖像，再結合獨特的AI識別軟件，就能檢出塑料片。

NextGuard X射線檢出機采用簡單門限、梯度濾波、三種點陣濾波、以及針對烘焙生產線典型三種濾波器：“T”型濾波可檢出螺絲、釘子等、“菱”型濾波可檢出碎玻璃、塑料塊等、“I”型濾波能檢出篩網、金屬絲等、以及低密度塊狀濾波器等，有效的CT掃描濾波器及識別技術，成功優化靈敏度，減少誤剔除現象。另外，還能通過質量檢測選件，檢測切片面包是否少一片。