XRF光譜分析儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。可以執(zhí)行快速且準(zhǔn)確的完整無損分析,并可用于測試多種元素。可通過該技術(shù)快速獲知樣品中存在的具體元素,并利用校準(zhǔn)得知元素的具體占比。
XRF光譜分析儀主要由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。激發(fā)源產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),這些射線照射到被測樣品上,與樣品中的原子發(fā)生相互作用,使得樣品產(chǎn)生荷電粒子和X射線的散射輻射(二次X射線)。探測器對產(chǎn)生的X熒光(二次X射線)進(jìn)行檢測,測量其能量和數(shù)量。儀器軟件將探測系統(tǒng)收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。
該設(shè)備測定用時與測定精密度有關(guān),但一般都很短,可以在數(shù)秒到幾分鐘內(nèi)完成樣品中全部待測元素的測定。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象,因此同一試樣可反復(fù)多次測量。
本公司提供的xSORT XRF光譜分析儀具有超高速元素分析能力的手持式X熒光光譜儀,可滿足多種金屬基體材料以及土壤,塑膠,礦石等多種復(fù)雜材料的光譜化學(xué)成分分析需要。
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對其真實(shí)性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。