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菲希爾代理XDL210信息

來源:無錫駿展儀器有限責任公司   2024年09月13日 16:38  

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數法,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。多可同時測量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。

XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。

XDL 系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的應用領域有:

? 測量大規模生產的電鍍部件

? 測量薄鍍層,例如裝飾鉻

? 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

? 全自動測量,如測量印刷線路板

? 分析電鍍溶液


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