愛安德分享測量顯微鏡原理

測量顯微鏡可按照明方式分類。

1. 透照法

透射照明是一種透射照明，它允許光線穿過以捕捉物體的輪廓并測量其尺寸。用于測量輪廓。

2.垂直反射照明

垂直反射光將光垂直照射到物體表面，并利用反射光觀察表面。垂直反射照明不僅可以測量尺寸，還可以觀察表面形狀。

3.斜反射照明

斜反射照明是一種將光線傾斜地照射到被測物體表面的照明方法。其特點是強調圖像的對比度，因此可以獲得三維且清晰的圖像。然而，測量尺寸時可能會出現錯誤。

測量顯微鏡用于相對較小的機械零件、電子設備零件和半導體產品的生產和質量控制。該測量裝置適用于測量小零件和不使用顯微鏡放大難以測量的詳細零件。

除了測量尺寸外，它還可以用于使用偏振光和微分干涉進行觀察，例如檢測半導體基板上的劃痕。由于放大倍數的準確性，通過使用模板進行比較測量來確定產品是否在公差范圍內，對于簡單的檢查也很有用。

測量顯微鏡既可以用作測量裝置，也可以用作顯微鏡，并且一臺裝置可以用于多種用途。