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MP工具箱 | Zetasizer測試結果質量判別

來源:馬爾文帕納科   2024年11月12日 13:43  


在上一篇“MP工具箱”文章中,我們介紹了馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的粒徑測試報告中的的參數都代表了哪些含義,那么如何判斷納米粒度儀測試結果的質量呢?本文將就此問題給出解答。







在判別Zetasizer納米粒度電位儀的測試結果前,我們要確保所測試的樣品濃度合適。對于大多數剛性納米粒子來說,在合適的濃度范圍內,粒徑大小是不隨濃度變化的。通常適合測試的樣品為半透明或接近透明狀態。還可以通過對count rate(測試光強)和 attenuator (衰減器編號)等參數來考察樣品濃度是否合適。


正常的樣品濃度,光強會在適合范圍內;如果衰減器編號過低或者過高,樣品的濃度就可能過高或者過低,導致影響測試準確性。如果濃度合適,光強均在100-500kcps 之間,Attenuator 會在5-9 之間,>9 樣品較稀,<5 樣品較濃。


相關方程顯示了粒子散射光波動的信息,相當于測試原始信號。如下列例圖,樣品本身的粒徑大小及分布等信息,可以從相關方程得到,尤其要關注以下四點信息:

MP工具箱 | Zetasizer測試結果質量判別

Correlation Functions----相關方程


1

截距——信噪比

一般截距在0.85-0.95 之間,過高>1 可能體系中存在較多的大顆粒信號,數量波動較大;過低可能是顆粒較小且濃度較稀;如果只有0.00+可能體系有熒光。

2

時間依賴性——顆粒大小

如果時間依賴性長,說明顆粒較大,反之,顆粒較小。

3

斜率——樣品分布寬度

斜率較大說明樣品分布較窄,反之,則較寬。如果有兩個斜率,通常樣品雙峰分布。

4

基線——大顆粒或灰塵影響

如果基線不平,則說明體系中有很大的粒子、灰塵、締合物等;如果基線光滑且歸零,說明體系無大顆粒、灰塵等。大顆粒會影響數據的質量。




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