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ThetaMetrisis是一家私有公司,成立于2008年12月,位于希腊雅典,是NCSR'Demokritos'的微电子研究所的第1家衍生公司。ThetaMetrisis的核心技术是白光反射光谱(WLRS),它可以在几埃到几毫米的超宽范围内,准确而同时地测量堆叠的薄膜和厚膜的厚度和折射率。
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