随时掌握行业动态
网络课堂 行业直播
手机访问更快捷
更多流量 更易传播
产品
标卓 BW/加拿大 FSM 北京华测 OLYMPUS/奥林巴斯 RENISHAW/英国雷 ROOKO/瑞柯 同惠电子 ThetaMetrisis TSI/美国 TYCO/美国泰科 UNICO/尤尼柯 厦门地坤 YIOU 纵横金鼎 其他品牌
在线询价
非接触方阻测试仪PX 1992
薄膜应力测量系统PX 3042
HD-2263/ST2263双电测四探针检测仪PX 3211
WD4000晶圆厚度Wafer参数量测设备PX 4671
GL-SPM-D2T光学薄膜测量仪PX 9418
RTS-9型双电测四探针锂电极片电阻测试仪PX 2702
Hologenix微米晶圆缺陷检测系统PX 2194
HEP-MC8000晶圆检测机PX 1837
YAMADA爱安德光学晶圆缺陷YP-150ID瑕疵现货光源HPS-150PX 4897
YP-150I-日本YAMADA山田半导体检查灯--备库销售PX 2031
半导体晶圆缺陷检测仪PX 3042
自由曲面三维面型检测仪PX 1886
BDST-300C半导材料四探针测试仪PX 3614
CI8化合物半导体SiC、GaN晶圆检查装置PX 7172
HC系列日本kita电路板接触式集成弹簧探针PX 4752
IM-8020KEYENCE基恩士图像尺寸测量仪PX 4438
BX-G3487高精度太阳膜透过率测量仪PX 3185
FPEH-MX70X晶圆翘曲度测量仪PX 3486
台式离线接触式测厚仪TOF-6R001PX 6014
GBT17643聚乙烯土工薄膜应力开裂测试仪PX 6997
NH-3SPs高精度点自动对焦3D测量机PX 1556
CC系列CT系统PX 1800
PA-110-t晶圆应力双折射测量仪PX 2716
TC-SLQZ型气动和真空探针土壤采样PX 2682
AX7900晶圆缺陷X-RAY检测设备PX 4606
Full Deposition PSL Wafer校准晶圆标准品-半导体表征PX 2743
UT528 安规测试仪PX 1673
三菱化学粉体电阻率四探针测试仪MCP-PD51PX 2708
F40Filmetrics 光学薄膜测厚仪PX 2784
RTS-3型手持式四探针测试仪半导体电阻仪PX 3669
四探针方阻电阻率测试仪PX 3066
fireye离子探针69ND1-1000K4现货销售PX 2550
BEST-300C金属膜四探针方阻电阻率检测仪PX 4957
JCC-1D 机床静刚度测试仪PX 2847
晶圆缺陷参数检测 : 非接触测试解决方案PX 5999
四探针法粉末电导率测试仪PX 4252
BXA58超高阻双电四探针测试仪PX 2665
HCTZ-2S四探针测试仪PX 5838
A-9531-0237Renishaw雷尼绍测头PX 2700
SM280自动显微薄膜厚度测绘仪PX 3068
薄膜生长设备
工艺测量和检测设备
集成电路测试与分选设备
光刻及涂胶显影设备
热工艺设备/热处理设备
硅片制备/晶体生长设备
掩模版和中间掩模版制造设备
离子注入设备
干法工艺设备
湿法工艺设备
组装与封装设备
其它半导体行业仪器设备
非接触方阻测试仪
全自动非接触电阻率方阻测试仪
晶圆厚度Wafer参数量测设备
晶圆表面形貌量测设备
光学晶圆缺陷YP-150ID瑕疵现货光源HPS-150
目视晶圆缺陷YP-250ID现货控制器HPS-250
自由曲面三维面型检测仪
晶圆翘曲应力测量仪
-日本YAMADA山田半导体检查灯--备库销售
晶圆缺陷光学检查灯185LE目视光源185LE现货
聚乙烯土工薄膜应力开裂测试仪
上海衡平仪器仪表有限公司
赛默飞色谱及质谱
上海平轩科学仪器有限公司
广播电视节目经营许可证
互联网药品信息服务资格证书
医疗器械网络交易服务第三方平台备案凭证
ICP备案号:浙B2-20100369
浙公网安备 33010602000006号
服务咨询:0571-87759922
采购服务:13073662630(微信同号)
展会合作:0571-87759900
投诉热线:0571-87858619
友情链接:0571-87858618
化工仪器网APP
仪器优选APP
微信公众号
采购中心
请选择参数!