FSW-B80 R&S頻譜與信號分析儀丨蘇州詠繹代理 FSW-B80特點 
全新高性能R&S®FSW信號與頻譜分析儀滿足客戶高性能需求，提供低相位噪聲，寬分析帶寬和直觀性操作，使得測試工作快速簡單。
主要特點
• 頻率范圍覆蓋從2 Hz 至 8/13.6/26.5/43.5 GHz （加外部諧波混頻器可擴展至110GHz） • 相位噪聲低至-137dBc/Hz@1GHz,10kHz頻偏 • WCDMA 鄰信道功率比測試88dB動態(tài)范圍（噪聲消除功能打開） • zui高160MHz分析帶寬 • 8 GHz范圍內(nèi)低至0.4dB總測量不確定度 • 高分辨率的12.1寸觸摸屏方便操作 • 支持多任務(wù)并行測量及顯示
型號 | 型號 | 訂貨號 | | R&S®FSW 頻譜與信號分析儀，2Hz到8GHz | 1312.8000K08 | | R&S®FSW 頻譜與信號分析儀，2Hz到13.6GHz | 1312.8000K13 | | R&S®FSW 頻譜與信號分析儀，2Hz到26.5GHz | 1312.8000K26 | | R&S®FSW 頻譜與信號分析儀，2Hz到43.5GHz | 1312.8000K43 |
特點
射頻性能滿足苛刻需求
• 的相位噪聲 – 是雷達和通信應(yīng)用振蕩器測試的理想工具 振蕩器，頻率合成器和發(fā)射機系統(tǒng)的研發(fā)人員將從R&S®FSW突出的相位噪聲測量動態(tài)范圍性能中獲益。在偏離載波中心頻率10kHz位置，R&S®FSW相位噪聲在1GHz中心頻率處可達到-137dBc（1Hz），而在10GHz中心頻率處可達到-128dBc（1Hz）。偏離載波中心頻率100kHz位置，相位噪聲在相同中心頻率處分別為-110dBc（1Hz）和-90dBc（1Hz）. 在相位噪聲性能上R&S®FSW超越前一代分析儀多達10dB。
相位噪聲在1GHz中心頻率，10kHz偏離處為 -137dBc（1Hz）
• 低顯示平均噪聲電平帶來出色的雜散測試動態(tài)范圍 顯示平均噪聲電平（DANL）在未使用預(yù)放大器條件下，2GHz頻率處低至-159dBm（1Hz）而25GHz頻率處低至-150dBm（1Hz）。R&S®FSW可在寬頻率范圍內(nèi)提供快速而可靠的雜散測試。顯示平均噪聲電平可通過選擇使用噪聲消除功能而進一步改善13dB。用戶可確認之前隱藏在噪底之下的極小雜散信號從而有效地優(yōu)化發(fā)射機系統(tǒng)。
• 內(nèi)置高通濾波器簡化諧波測試 R&S®FSW可選配可切換使用的高通濾波器（R&S®FSW-B13）進行zui高頻率至1.5GHz的發(fā)射機系統(tǒng)諧波測試。與傳統(tǒng)的頻譜分析儀相比可獲得明顯的動態(tài)范圍改善。無需外部濾波器，可方便針對GSM, CDMA, WCDMA, LTE 和TETRA 系統(tǒng)進行測試系統(tǒng)的搭建。
• 低頻段內(nèi)提供高選擇性
• 高度
• 單獨的接收機通路使得在zui高1GHz頻率范圍內(nèi)獲得不可比擬的動態(tài)范圍
面向未來
• 高達160MHz解調(diào)帶寬 多載波或者寬帶應(yīng)用的功率放大器為了提高效率而進行的線性化工作或者通信系統(tǒng)自身占用帶寬的增加，使得對于分析帶寬的需求持續(xù)增加，面對挑戰(zhàn)，R&S®FSW提供高達160MHz的分析帶寬滿足測試需求。
| 配置 | zui大分析帶寬 | 應(yīng)用 | | 標準配置 | 10 MHz | • 單載波標準應(yīng)用與測量，比如WCDMA, cdma2000®, TD-SCDMA,TETRA | | R&S®FSW-B28 | 28 MHz | • 調(diào)制測量 WiMAX™, LTE, WLAN 802.11a/b/g 信號 | | R&S®FSW-B40 | 40 MHz | • 調(diào)制測量 802.11n 信號
• 放大器特征化與線性化 | | R&S®FSW-B80 | 80 MHz | • 放大器特征化與線性化
• 寬帶脈沖測量
• 調(diào)制測量802.11ac 信號 | | R&S®FSW-B160 | 160 MHz | • 放大器特征化與線性化
• 寬帶脈沖測量
• 調(diào)制測量802.11ac 信號 |
• 高無雜散動態(tài)范圍 > 100 dBc 當(dāng)分析I/Q數(shù)據(jù)時，除ADC分辨率之外，無雜散動態(tài)范圍（SFDR）也是重要指標。由于無雜散動態(tài)范圍（SFDR）> 100 dBc，因此R&S®FSW在線性化放大器或測量EVM時擁有*的測量精度。
| 分析帶寬 | SFDR | | 10MHz | 100dBc | | 80MHz | 80dBc | | 160MHz | 70dBc |
• 大IQ信號存儲深度無縫記錄長信號序列
| 分析帶寬 | 采樣速率 | zui大記錄時間 | | 10MHz | 12.5 Msample/s | 36.9s | | 20MHz | 25 Msample/s | 18.4s | | 40MHz | 50 Msample/s | 9.2s | | 80MHz | 100 Msample/s | 4.6s | 160MHz | 200 Msample/s | 2.3s |
設(shè)計便捷 – 直觀顯示結(jié)果
• 優(yōu)化用戶向?qū)нM行有效操作 ° 平面化的菜單架構(gòu)
° 透明窗口
° 工具欄
° 縮放功能
° 自適應(yīng)窗口規(guī)劃
• 多視窗：多個測試結(jié)果可同時顯示
多視窗功能
分析雷達系統(tǒng)的理想工具
• 快速識別和分析發(fā)射雜散信號 為了識別發(fā)射機或振蕩器的雜散發(fā)射，通常需要在窄分析帶寬下做寬帶測量。R&S®FSW提供極短的掃描時間，即使在1kHz分辨率帶寬，8GHz掃描頻率范圍和電平小于-100dBm條件下，R&S®FSW也能夠在10秒內(nèi)給出測試結(jié)果。使用縮放功能或者多視窗功能，用戶可以在檢查發(fā)射雜散細節(jié)的同時保持對整體頻譜的觀測。
• 低相位噪聲適合振蕩器測試
為了達到高分辨率，雷達系統(tǒng)通常配備高穩(wěn)晶振，他們能夠地確認物體的運動速度。射頻指標優(yōu)異，R&S®FSW是測量振蕩器的理想選擇。
• 一鍵完成脈沖參數(shù)測量 特征化雷達系統(tǒng)需要測量大量的脈沖參數(shù)。R&S®FSW-K6選件測量– 一次按鍵 –測試所有相關(guān)參數(shù)，如脈沖寬度，脈沖周期和脈沖上升/下降時間，脈沖內(nèi)的功率平穩(wěn)度，脈內(nèi)相位調(diào)制以及眾多脈沖的趨勢分析。用戶選擇的結(jié)果可同時在屏幕顯示。R&S®FSW可以在幾秒鐘內(nèi)給出雷達系統(tǒng)的測試全景圖。
配置R&S®FSW-K6脈沖測量選件，一鍵測量脈沖重要參數(shù)
• 分析極短的脈沖上升和下降時間
分析極短的脈沖需要大的動態(tài)范圍和大的分析帶寬，R&S®FSW皆而有之。
分辨信號間的相互影響
• 多標準無線分析儀 R&S®FSW提供新多標準無線分析儀功能，此功能在FSW的160MHz分析帶寬內(nèi)可以同時測量處于不同頻率點的不同標準信號（比如GSM, WCDMA, LTE信號） 
多標準無線分析儀：一次抓取信號，同時在不同頻率點分析不同標準信號
快速測量
• 高測量速率和快速掃描時間高達1000次掃描/秒。
• 儀表設(shè)置間的快速切換
• 有效的測量功能加速操作過程
° 頻率列表模式：使用單個遠程控制命令可以觸發(fā)300個頻點的不同頻譜儀設(shè)置進行快速測量
° 一次掃描在時域完成不同功率電平的測量（多結(jié)果marker）
° 0.1Hz分辨率條件下，頻率計數(shù)器< 50ms
° 在時域使用信道濾波器或在頻域使用FFT掃描完成快速鄰道功率測試
• 內(nèi)置支持R&S®NRP-Zxx功率探頭
| R&S®FSW測量速度 | | 本機測量和顯示更新 | 1001 掃描點 | 1.25 ms （800/s） （測量值） | | 程控測量, 1000次掃描平均 | 1001 掃描點 | 1.0 ms （1000/s） （測量值） | | 通過網(wǎng)絡(luò)接口程控測量包括數(shù)據(jù)傳遞 | | 5 ms （200/s） （測量值） | | Marker 峰值搜索 | | 1.7 ms （測量值） | | 設(shè)置中心頻率包括數(shù)據(jù)傳遞 | f ≤ 8 GHz | 15 ms （測量值） | | | f > 8 GHz | 65 ms （測量值） |
安全投資
• 與科技發(fā)展保持同步
• R&S®Legacy Pro – 輕松替代淘汰分析儀
R&S®FSW支持其它Rohde & Schwarz信號與頻譜分析儀，比如R&S®FSU和R&S®FSQ，同時也支持其它廠家的儀表（R&S®Legacy Pro） 的遠程控制命令集。使用R&S®FSW替代淘汰分析儀毫無問題。大多數(shù)情況下在測試過程中充分了驗證R&S®FSW的命令反饋。眾多成功使用R&S®FSV或者R&S®FSU替代淘汰分析儀案例已經(jīng)證明這一方法的有效性。
• 保護測試機密數(shù)據(jù)
保護測試機密數(shù)據(jù)，用戶可以使用獨立的固態(tài)硬盤（R&S®FSW-B18 選件）更換R&S®FSW的內(nèi)置固態(tài)硬盤，避免儀表在外送校驗過程中任何機密數(shù)據(jù)離開實驗室。分析儀自身的校準數(shù)據(jù)與用戶數(shù)據(jù)分別獨立存儲。 |
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