E+H雷達物位計選型原則及優點
E+H雷達物位計的優點是：不受空氣波動影響，隨距離衰減小，穿透力強。
雷達的局限性：1）影響雷達的性能是介電常數，理論上在真空中雷達衰減極小，當空氣中存在對雷達衰減物質，例如：含高介電性的粉塵粉末（石墨，鐵合金等），水蒸氣很大，測量距離和效果要受影響。2）被測介質的揮發氣體會在天線上聚集，水蒸汽會在天線上聚結，此時，會影響雷達波發射，嚴重時雷達波不能發出。

E+H雷達物位計選型原則及優點
物位儀表選型 -雷達物位計
非接觸物位測量中，雷達技術的應用近年來獲得快速發展。超聲波物位計中換能器是眼睛，而雷達物位計中高頻頭和天線是眼睛，回波處理是物位計的大腦。E+H雷達物位計繼承了超聲波物位計的回波處理技術。
雷達物位計發出的電磁波碰到被測介質被反射，反射回波的質量反映了物位計應用效果。回波質量定義為zui小回波幅度（在zui惡劣條件下回波幅度）比zui大噪聲幅度（虛假回波、多徑反射波等的幅度）。回波質量數值越大，物位計應用效果越好。
回波強度主要受以下因素影響
傳播介質介電常數越穩定越有利于傳播。雷達波是電磁波，電磁波在傳播過程中不受傳播介質穩定程度的影響，只與其介電常數有關。這是雷達技術與超聲波技術的重大區別。
被測介質表面越平整，其介電常數越大越有利于回波反射。
所以考慮現場工況時，應特別注意這兩個方面：（1）天線到被測介質間空氣介電常數的分布（2）被測介質的表面狀態及其介電常數。
E+H雷達物位計選型原則及優點
E+H雷達物位計的優點是：不受空氣波動影響，隨距離衰減小，穿透力強。
雷達的局限性：1）影響雷達的性能是介電常數，理論上在真空中雷達衰減極小，當空氣中存在對雷達衰減物質，例如：含高介電性的粉塵粉末（石墨，鐵合金等），水蒸氣很大，測量距離和效果要受影響。2）被測介質的揮發氣體會在天線上聚集，水蒸汽會在天線上聚結，此時，會影響雷達波發射，嚴重時雷達波不能發出。3）被測介質的介電常數不能太小。4）盡管溫度和壓力對雷達影響極小，但雷達天線是由材料做成，雷達可適應溫度和壓力的范圍與使用的材料和密封結構有關。
E+H雷達物位計目前已成為市場上的主打產品，而低頻率雷達物位計盡管具有價格相對低廉的優點，但在主要應用領域中，屬于逐漸被淘汰的產品。從超聲波物位計的應用中得知，要獲得比較好的回波，換能器工作頻率大約40KHz，波長大約9mm，這時發射波的開角為7°-8°。工作頻率越高，其開角越小，但其量程較小。與超聲波類比，雷達物位計要獲得上述效果的回波，其工作頻率應為26GHz，此時，其波長為11mm。當用口徑為100mm的喇叭時，可獲得7°-8°開角的發射波。若雷達工作頻率是6GHz，則相當于超聲波的工作頻率為10KHz。而工作頻率為10kHz的超聲波物位計在物位測量中各項指標都很不理想，特別不適于固體料位的測量。與低頻率雷達相比，高頻E+H雷達物位計有以下優點：

1）高頻雷達物位計（主要指26GHz和24GHz）具有能量高，波束角小（一般Φ95的喇叭天線的波束角為8o，而6GHz低頻脈沖雷達的喇叭天線直徑為Φ246時，波束角為15o），天線尺寸小，精度高等優點。
2）26GHz雷達波長11mm，6GHz雷達波長50mm，雷達測量散裝料位時，雷達波反射主要來自料面的漫反射，漫反射的強度與物料大小成正比，與波長成反比，而大部份散裝料直徑遠遠小于50mm，這就是為什么目前26GHz雷達是散裝料物位測量的*選擇。
3）在一些直徑小高度矮的小罐應用中， 6GHz雷達天線長（300-400mm）無形中增大了盲區（大約600mm），由于6GHz雷達方向性差（開角大）在小罐中會產生多徑反射；26GHz雷達頻率高頻，天線短，方向性好，克服了6GHz雷達的缺點，適用于小罐測量。
4）由于現場環境惡劣，隨著時間推移，雷達天線會堆積污物、水汽等，26GHz雷達天線小，加天線罩可大大改善污物、水汽影響；6GHz雷達天線大，加天線罩很困難。且儀表較沉重，清理困難。

5）由于26GHz雷達方向性好，很多惡劣工況，可通過簡單隔離，將雷達裝在容器外進行測量。
目前，26GHz雷達物位計的價格已與6GHz雷達物位計價格相當，這更促進了26GHz雷達物位計的應用。 可以預見，6GHz雷達物位計會大大降低。隨著技術的進步，我們期待更高頻率（如：90GHz）、更小開角（如：2°，3°）、更小體積的雷達物位計的面世。我們將在此領域中不懈地努力，將雷達物位測量做到shouxuan。
導波雷達物位計——非接觸雷達物位測量的補充
導波雷達物位計發射脈沖電磁場，以導波纜為中心100mm為半徑，沿纜向前傳播，遇介質返回。除有非接觸雷達的特點以外，導波雷達方向性好，頻率低（500M-1GHz）穿透性好。缺點是顯然的，尤其在固體測量中，調試維修都不方便，經常會磨損，甚至斷纜。可利用導波雷達物位計低頻的穿透性實現某些特殊應用。如：油水界面；以及利用纜的末端反射測量介電常數非常小的粉末（除塵粉倉）粉位測量等。
在高溫、高壓工況條件下，導波雷達物位計與脈沖（非接觸）雷達物位計相比更具優勢。脈沖雷達天線由不銹鋼和PTFE構成，而PTFEzui高使用溫度200°，zui高壓力4MP。當導波雷達用不銹鋼和陶瓷構成時，zui高使用溫度400°，zui高壓力40mp。