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方塊電阻測試儀是手持式方塊電阻測試儀,門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質(zhì)的薄層電阻。

方塊電阻測試儀是四探針方塊電阻測試儀中的新代產(chǎn)品,門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質(zhì)的薄層電...

儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數(shù)快、度、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結構緊湊、易操作等點。如有需要可加配測試臺使用。本儀器適用于半導體材料廠、半導體器...

方塊電阻測試儀是種依照類似的家標準和美A.S.T.M標準，門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄...

該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成度穩(wěn)源；帶回路有效正常示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測...

雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量,利用電探針、電壓探針的變換，行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的...

雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電探針、電壓探針的變換，在計算機控制下行兩次電測量，...

雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電探針、電壓探針的變換，在計算機控制下行兩次電測量，...

儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數(shù)快、度、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結構緊湊、易操作等點。如有需要可加配測試臺使用。本儀器廣泛應用于太陽能單晶（多晶）...

儀器以大規(guī)模集成電路為核心件,采用平面輕觸式開關控制,及各種作狀態(tài)LED示.應用微計算機，利用GSZ-HQ-710E型測量數(shù)據(jù)處理器，使得測量讀數(shù)更加直觀、快速...

四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準而的，用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(...

BTS-CS-1A-8動態(tài)應變儀采用了的應變測試電路及口性能電子器件，成為我代動態(tài)性能應變儀，并跨入了際水平的行列。本儀器配接不型的應變片及應變片式傳感器，可以...

BTS-CM-1J-32型數(shù)字靜態(tài)應變儀是我公司研制的代靜態(tài)應變儀，標已達到內(nèi)現(xiàn)階段靜態(tài)應變測量的Z水平。它主要基于單片機的應用，數(shù)字智能化，測量能豐富，采用電...

數(shù)顯碳化深度測量表采用度容柵位移傳感器，用混凝土表面的碳化深度測量，此表的Z大優(yōu)點是碳化深度直接數(shù)字顯示，度，并可手動保持，儀表采用A76型紐扣堿性電池，耗低，...

ZF-SYC-2B型液體介質(zhì)電阻率測試儀符合DL421標準要求，是在本公司原有液體介質(zhì)電阻率測試儀基礎上發(fā)展而成的新型儀器.除了保證原有儀器的優(yōu)點外,在儀器的可...

本裝置配備1%度以上的數(shù)字用表 可門校驗耐電壓儀、緣電阻儀、接地電阻儀和泄漏電儀標的準確性。是種適用于廠家和檢測對上述儀器行校驗的組合校驗裝置。

本測試儀適用于用電氣等設備的剩余電壓的測量。 具有預設定能，能瞬時采集Z大剩余電壓值，并由阻數(shù)顯電壓表顯示。測試過程按標準自動運行，具有聲光報警能，該儀器符合G...

本系統(tǒng)是種能自動或單項行耐電壓、緣電阻、接地電阻和泄漏電測試的智能化測試儀器。只需次接線即可自動成多項組合測試。各項測試值及限報警值可以預設定，對被測物能作合格...

本系統(tǒng)是種能自動或單項對接地、緣、耐壓、率、泄漏和低壓行直接測試的智能儀器。它適用于各類電機電器設備及儀器儀表尤其是家用電器類的安性能、電性能標的在線測試，該儀...

本儀器為數(shù)字顯示耐電壓緣電阻測試儀，可同時顯示輸出電壓，電及緣電阻值。報警電設定無可調(diào)，具有聲光報警能。儀器只需次接線即可自動成二項組合測試。