兩臺 DMM7510 內(nèi)置在一個緊湊型機箱中

DMM7512 由兩個彼此獨立的相同 7? 位 DMM7510 數(shù)字萬用表 (DMM) 組成，相比 DMM7510 具有更多測量功能。兩個 DMM7512 數(shù)字萬用表具有與 DMM7510 相同的精度、靈敏度和速度，因此 DMM7512 可以無縫集成到以前采用 DMM7510 的測試系統(tǒng)中。

DMM7512 雙通道 7? 位采樣萬用表特點

使用速度為 1M 采樣/秒的 18 位數(shù)字化儀對復(fù)雜波形進行采樣；存儲高達 2750 萬個讀數(shù)

以 0.1 μΩ 和 1 pA 靈敏度測試用于低功率電路中的組件

使用高達 14 ppm 的 1 年期精度直流電壓，通過高測試不確定度比率實現(xiàn)最高測試質(zhì)量

內(nèi)置測試腳本處理器 (TSP®) 可在無需控制器交互的情況下執(zhí)行測試序列，從而減少測試時間和通信開銷，同時利用控制器執(zhí)行其他任務(wù)

雙測試系統(tǒng)密度

在 1U 高機架空間內(nèi)使用兩個 DMM，節(jié)省寶貴的機架空間。與兩臺 2U 高 DMM7510 相比，您可以在一半的空間內(nèi)獲得兩倍的測量能力。

DMM7512 雙通道 7? 位采樣萬用表特點

將源和測量與 2606B 高密度 4 通道源測量單元 (SMU) 和 DMM7512 相結(jié)合，可實現(xiàn) 4 通道采樣和 2 通道測量功能，而占用的機架空間僅為 2U

無需在 DMM7512 或 2606B 之間提供額外空間以用于熱管理

顯著縮短測試時間

每臺 DMM7512 中的兩個 DMM 具有內(nèi)置智能，可以使用其測試腳本處理器 (TSP®) 技術(shù)在無需 PC 交互的情況下執(zhí)行測試程序。此外，每個 DMM 都具有 TSP-Link® 硬件接口，因此一臺儀器可以控制主從配置中的其他儀器。

特點

在 TSP-Link 測試系統(tǒng)中最多可控制 32 臺儀器

以低于 500 ns 的延遲同步測量值

消除儀器和 PC 之間耗時的通信

DMM7512 TSP 代碼與 DMM7510 TSP 代碼兼容