電子薄膜應力分布測試儀
該產(chǎn)品主要應用在微電子、光電子生產(chǎn)線上和科研、教學等領域Si、Ge、GaAs等半導體基片及電子薄膜應力分布、光學零件面形和平整度面形、 基片曲率
電子薄膜應力分布測試儀半徑測量測試。該儀器總測量點數(shù)多, 能給出全場面型分布結果, 適合于微電子生產(chǎn)線上產(chǎn)品質(zhì)量的快速檢驗和微電子生產(chǎn)工藝研究。
儀器基于干涉計量的全場測試原理, 可實時觀測面型的分布, 迅速了解被測樣品的形貌及應力集中位置, 及時淘汰早期失效產(chǎn)品。
產(chǎn)品名稱:純彎曲梁試驗裝置 產(chǎn)品型號:XL3416 |
純彎曲梁試驗裝置型號:XL3416
純彎曲梁試驗裝置技術參數(shù)
一、特點:
1、移動方便、數(shù)字顯示、結構簡潔、加載方便、測量準確
2、采用蝸桿機構以螺旋千斤進行加載,操作省力,加載穩(wěn)定,
3、剎車腳輪方便移動和固定
二、組成:
純彎曲梁實驗裝置由實驗臺+拉壓力傳感器+標準試件(應變片貼好)組成
三、實驗用途:
1、純彎曲梁橫截面上正應力的分布規(guī)律實驗
2、材料彈性模量E,泊松比µ的測定(選配)
3、偏心拉伸實驗(選配)
4、壓桿穩(wěn)定實驗(選配)
四、技術參數(shù):
1、 載荷范圍:5000N;
2、 加載機構作用行程:50mm;
3、 手輪加載轉(zhuǎn)矩:0~2.6N.m;
4、 加載速度:0.12mm/轉(zhuǎn);
5、 載荷靈敏度:1N;
6、 過載能力:150%;
7、 外形尺寸:750×450×1000;
8、 重量:45kg。