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K系列 博曼BOWMAN高精度鍍層測量儀K 系列是客戶測量各種樣品的理想之選，在高度不超過9英寸（228 mm）的工件上具有優(yōu)于同類產(chǎn)品的12英寸（304 mm...

奧林巴斯 測厚儀 Magna-Mike 8600Magna-Mike 8600是一款利用簡單的磁法對非鐵性材料進行可靠且重復性很高的厚度測量的便攜式測厚儀。Ma...

布魯克 X射線鍍層測厚儀M1 ORA是適用于珠寶行業(yè)的臺式X射線鍍層測厚儀，結(jié)構(gòu)緊湊、占用空間小。

鍍層測厚儀M1M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號（鈦）-92號（鈾）中的元素...

大尺寸鍍層測厚儀M2 BLIZZARD采用開槽設計，適用于扁平形狀和尺寸過大的樣品。

布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE（立方）是一種以脈沖復位模式運行的單片電荷靈敏式前置放大器，借助外部電阻器，也可以以連續(xù)復位...

DANTE數(shù)字脈沖處理器DANTE數(shù)字脈沖處理器伽馬射線探測器信號，數(shù)字脈沖處理器，前置放大器芯片，X射線信號，前置放大器芯片，SDD探測器，同步輻射光源。

薄膜測厚儀MProbe系列反射光譜干涉法是一種非接觸式、無損的、快速的光學薄膜厚度測量技術(shù)。

反射膜厚儀MProbe VisMProbe Vis薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。

反射膜厚儀MProbe UVVisSRMProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。

反射膜厚儀MProbe RT該機大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。

反射膜厚儀MProbe NIR采用近紅外光譜（NIR）的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域，比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽能薄膜（CIGS,...

顯微反射膜厚儀MProbe MSPMProbe MSP顯微薄膜測厚儀適用于實時在線測量，多層測量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫（超過500材料），新材料可以...

涂層測厚儀SURFIX®X系列測量儀器: 彩屏, PC 連接，易操作,以及適合PHYNIX探頭

涂層測厚儀SURFIX®系列用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍以及陽氧化涂層的快速測量

涂層測厚儀SURFIX®簡易系列Surfix® 簡易系列的測量探頭均由硬質(zhì)合金制成，這意味著它具有幾乎無限的使用壽命。

便攜式涂層測厚儀PaintCheck不能測量涂層的厚度，也能提供有關涂層結(jié)構(gòu)的有價值信息

涂層測厚儀 探頭我們提供多種不同的儀器和探頭，幾乎能夠測量金屬材料的涂層厚度。

膜厚儀EDX8000B應用場景EDX8000B鍍層測厚儀可以用于PCB鍍層厚度測量，PCB鍍層分析，金屬電鍍鍍層分析；測量的對象包括鍍層、敷層、貼層、涂層、化學...