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產品簡介
詳細介紹
1. x射線衍射儀廠家介紹
SHD3000衍射計在分析領域中有很廣泛的應用,從紡織品質地到薄膜分析、張力測定和反射計等。
在測定層厚度和分析半導體組分的時候,借助高性能、高分辨率的衍射儀,您可以很輕松地獲得很好的結果。
高分辨率的反射計研究中可以借助SHD3000來確定層厚度、密度、表面和接觸面的粗糙程度。
2. SHD 3000的特點
• 有原位微處理器的超高穩定性的X射線發生器,微處理器可通過電腦串行接口控制
• 高亮玻璃和陶瓷的X-射線管,在直線和點的焦點位置快速旋轉
• X-Y和旋轉臺的電子管屏蔽
• 應用Max-FluxTM 光學系統的平行光束光路
• Eulerian cradle可以使樣品片刻就排列在一起
• 通過帶有光學編碼器的步進電動機進行精確定位的高精度,高速度的測角儀
• 所有電機具有七級自由度
• 大尺寸X-Y-Z（X, Y, Z可調節, X, Y為150mm, Z為25mm）機械樣品支架可以測量200mm的樣品圓片或者其他類型的樣品
• 用于Cr、Fe、Co、Cu 和Mo輻射的二級單色器
• 花崗巖工作臺為測角儀提供了高的機械穩定性
• 降低背景值或提高強度的使用填充氙氣的比例、閃爍計數器、固體狀態、線性和彎曲位敏檢測器（PSD）
• 使用Microsoft Windows 2000/NT/ME 或 XP 操作系統,在32位環境下進行數據處理和儀器控
3. 應用
• 紡織業
• 薄膜分析
• 應變測量
• 半導體中的反射、層厚度、組分、密度、表面和接觸面的粗糙程度
