詳細(xì)介紹
3160 4site終端測試分類機(jī)
主要特色:
- 9K pcs 產(chǎn)能 (Model 3160 / 3160A )
- 彈性的矩陣測試及指紋圖形測試 (3160F)
- 1~10 Kgf 微型接觸力 (3160F)
- 1 x 4 DUT架構(gòu) (3160/3160F)
- 1 x 4或2 x 2 DUT架構(gòu) (3160A)
- 主動式熱控模組 (選購) (3160A)
- 馬達(dá)式Arm Z (3160A)
- 氣缸式側(cè)推功能 (3160A)
- 空載盤自動堆疊 (選購) (3160A / 3160F)
- 可設(shè)定的待測物間距
- 可側(cè)邊安裝測試機(jī)
- 可編程氣動式阻尼器控制,以減少接觸力的影響響
- 智慧型IC殘留檢測
- 測試良率控制
- 通用治具
- 進(jìn)階版ESD標(biāo)準(zhǔn)
3160系列是一系列適合量產(chǎn)、高產(chǎn)出、多平行測試站點(diǎn)的高速IC測試分類機(jī)。此系列分類機(jī)運(yùn)用Pick & Place技術(shù),能夠配合多種封裝類型並按照測試結(jié)果將它們排序分類予分料盤中。 其高效率的模組 化設(shè)計(jì)與精準(zhǔn)的機(jī)構(gòu)傳動結(jié)構(gòu)可確保在高速運(yùn)作下,機(jī)臺量測之重覆性,並有助於增加機(jī)臺使用之穩(wěn) 定性與維護(hù)之便利性。此外,其簡潔的機(jī)臺設(shè)計(jì)更可節(jié)省機(jī)臺於測試廠之佔(zhàn)地面積,幫助客戶大幅降 低生產(chǎn)成本。進(jìn)階款3160A可按照客戶測試條件需求搭配Chroma研發(fā)的主動式熱控模組 (ATC) 達(dá) 到精準(zhǔn)的常、高溫測試溫度要求;3160F則可依其待測物 (指紋辨識芯片) 的不同需求,修改測試條件 及程序。
3160系列具備高可靠性的處理機(jī)制可依據(jù)測試需求支援各種不同類型封裝的晶片,且能與通用生產(chǎn) 治具相容,順暢的自動化技術(shù)滿足高產(chǎn)能和低Jam Rate的量產(chǎn)要求。此外,可調(diào)式的壓測力和位置校 正以及各種感應(yīng)裝置可降低待測物發(fā)生突如其來的損壞,和幫助延長socket的使用期,同時(shí)保持或提 升產(chǎn)能的良率。