目錄:北京中顯恒業儀器儀表有限公司>>德國徠卡顯微鏡>>徠卡工業顯微鏡>> 20/30PV ™顯微分光光度計-顯微拉曼系統
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 生物產業,能源,電子,綜合 |
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20/30 PV™顯微分光光度計-顯微拉曼系統是為滿足您的嚴格需求而設計的定制儀器。強大的模塊化系統結合了多種光譜技術。
20/30 PV™顯微分光光度計-顯微拉曼系統具有從遠紫外到近紅外的光譜范圍，能夠通過吸光度、反射率、動力學、偏振、熒光和光致發光來測量亞微米樣品的光譜，還提供拉曼、薄膜厚度測量和5D Mapping。
令人難以置信的是，該系統還能夠進行高分辨率的紫外 - 可見 - 近紅外成像。結合的工程進展，20/30 PV™采用了的Lightblades™光譜儀，這是專門為高性能顯微分光光度計設計的技術。20/30 PV™將*的光學、軟件、硬件和Lightblades™集成到功能強大且靈活的儀器中，作為一個模塊化、耐用但易于使用的系統，20/30 PV™是*的工具，可以得到您需要的結果。
20/30 PV™參數
| 光譜學類型 | 紫外-可見-近紅外吸光度，反射率，熒光，光致發光，偏振 |
| 顯微拉曼 | 可選Apollo II™ |
| 薄膜厚度 | ≥15nm |
| 微動力 | 可選 |
| 5D Mapping | 可選 |
| 微比色法 | 可選 |
| 光譜范圍 | 200-2500nm |
| 成像范圍 | 深紫外線到近紅外 |
| 熒光激發 | 250-546nm |
| 熒光發射 | 300-1000nm |
| 探測器類型 | Lightblades™ |
| 探測器 | CCD和inGaAs陣列 |
| 探測器冷卻 | TE制冷 |
| 光譜分辨率 | 1-15nm |
| 采樣面積 | 1-10000µm2 |
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