一、產品介紹
波長色散X射線熒光光譜儀是一種用于分析材料中元素組成的儀器。它基于X射線的特性，通過激發樣品產生熒光，并測量不同元素所發射的特定波長的熒光信號來鑒定和定量樣品中的元素。
該儀器包括X射線源、樣品臺、能量分析器和檢測器等部件。X射線源產生高能量的X射線束照射到樣品上，激發樣品內部原子的電子躍遷。激發后的原子會返回基態并發射熒光X射線。這些熒光X射線經過能量分析器的衍射或散射過程，根據波長進行分散。最后，檢測器捕獲并測量不同波長的熒光信號強度。
波長色散X射線熒光光譜儀能夠提供元素的定性和定量分析結果。通過比較樣品熒光信號與已知標準樣品的對比，可以確定樣品中存在的元素及其相對含量。這種技術在材料分析、環境監測、地質學、考古學和金屬檢測等領域得到廣泛應用。
二、技術參數：
1.具有0.X ppt的檢出限
2.動態范圍可達到6個數量級范圍
三、主要特點：
1.新一代采用冷蒸汽原子熒光測汞儀
2.檢出限高，線性范圍大
3.符合EPA標準
4.測量時間快速
5.自動化程度高
6. 采用世界上新的、*偏振X射線熒光激發技術, 區別于其他X射線熒光儀, 儀器的背景低, 信噪比佳, 檢出限低.
7. 采用多靶轉換技術, 對不同的分析元素采用不同的次級靶, 保證對元素周期表中Na – U的所有元素均有佳的激發效果。其中儀器所采用的晶體靶, 由于X射線衍射的原因, 其激發強度不僅不會下降, 反而會產生單色平行X光束, 大大提高激發元素的效率。
8. 由于偏振X射線本身所具有的偏振性及單色性, 因此儀器無需選擇濾光片。避免了煩雜的濾光片的選擇, 簡化分析操作, 減少了X光的損失, 節約了分析時間。可實現真正意義上的Na-U的全分析。
9. XEPOS型儀器配有無需液態氮冷卻的Si計數器, 計數率高達120,000pcs. 可有效防止計數溢出。 不會產生Si(Li)計數器所發生的在無需液氮冷卻的情況下, 所產生的分辨率降低, 背景升高, 信噪比變差的情況。
10. 儀器采用的方式于世界上強的X射線發生源-同步加速器所采用的光源機制相似，X光極為純凈，減少了雜散光對分析結果的影響。
11. 儀器可選擇配置 TURBOQUANT快速定性, 半定量(定量)程序。可對任何*未知的樣品進行‘解刨’分析。與其他X熒光儀器相比，TURBOQUANT 更為接近(符合)實際，在此程序中采用了數十種標準樣品，實測結果并予以固化。
12. 儀器在Windows操作系統上建立斯派克的分析軟件，操作極為方便。采用人機功效學原理，譜圖匯編，自動識別。定性、定量功能強大。儀器采用分級密碼，重要的數據得到保護。
13. 儀器具有多達十幾種校正模式(數學模型)(方法)，在定量分析中可充分應用，已取得佳的分析結果。方法包括: 基本參數法、康普頓散射內標法、盧卡斯法、α經驗系數法、質量吸收系數法、平均原子量法等等。
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