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當前位置:北京圣達駿業(yè)科技有限公司>>EWAI產(chǎn)品系列>>X射線熒光光譜系列>> HS XRF®高靈敏度能量色散X射線熒光光譜儀
產(chǎn)品型號HS XRF®
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地北京市
更新時間:2024-11-17 20:45:55瀏覽次數(shù):1524次
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一、 核心技術(shù)綜述
高靈敏度能量色散X射線熒光光譜儀(HS XRF®)
全聚焦雙曲面彎晶衍射X射線管出射譜中高強特征X射線,將X射線光管出射譜單色化并聚焦入射到樣品一點,因此從樣品出射的X射線除了樣品中的元素被激發(fā)產(chǎn)生的熒光X射線和單色化入射譜線的散射線外,不存在X射線管韌致輻射所引起的連續(xù)散射背景,從而大幅降低元素熒光射線的散射線背景。
單波長激發(fā)-能量色散X射線熒光光譜儀與當前*的硅漂移探測器(SDD)是天作之合,硅漂移探測器計數(shù)率最高達到100萬CPS,所探測樣品熒光射線的立體角也受到接受晶體面積的限制,單波長聚焦激發(fā)降低入射射線背景射線強度的同時,又聚焦激發(fā),提升SDD探測的樣品元素熒光射線立體角,大幅提升元素熒光射線信噪比。
單波長激發(fā)-能量色散X射線熒光光譜儀將元素檢出限降低至亞ppm水平,從而滿足微量和痕量元素分析需求。
1) 快速基本參數(shù)法(Fast FP®)與*數(shù)學模型(Advanced mathematical models縮寫為Advanced MM)
XRF法面臨的難題是基體效應、元素間吸收-增強效應、標準樣品欠缺等問題,從而對于不同類型樣品的定量分析帶來挑戰(zhàn)。
快速基本參數(shù)法(Fast FP®)通過對X射線熒光光譜從產(chǎn)生到探測的各個環(huán)節(jié)進行計算,將物理學明確的物理現(xiàn)象建立相應的數(shù)學模型,基本參數(shù)法消除了由于不同類型樣品基體差異所產(chǎn)生的背景差異,減少分析誤差,通過少數(shù)標準品的校正即可得到元素精確定量分析結(jié)果。
安科慧生歷經(jīng)十幾年的積累,成功將快速基本參數(shù)法與*數(shù)學模型應用于XRF定量分析中,極大提升元素定量精度和樣品適應性。
一、 高靈敏度能量色散X射線熒光光譜儀工作條件
電源:220V±5%,50Hz±1% ;室內(nèi)溫度:15-35℃;
相對濕度:≤85%;地線:接地電阻≤4Ω
三、主要技術(shù)指標
1、原理:依賴全聚焦型雙曲面彎晶技術(shù)實現(xiàn)X射線光管出射譜單色化聚焦激發(fā)樣品,降低X射線管散射線背景干擾,大幅降低元素檢出限,達到對樣品中痕量元素分析能力;
2、光源系統(tǒng):全聚焦型雙曲面彎晶技術(shù),單色化聚焦入射樣品;
3、X射線管:微焦斑X射線光管,最大功率<12W,最大激發(fā)電壓<70KV;
4、樣品口:最大樣品直徑30mm,具有自旋裝置,可以減少由于樣品不均勻造成的分析誤差;自動開關(guān)蓋設計,軟件控制;
5、探測器:硅漂移探測器,窗口面積≥50mm2能量分辨率優(yōu)于139eV@Mn Kα,最大計數(shù)率>1000Kcps;
6、射線安全:樣品蓋與光管高壓電源聯(lián)動,具有自動鎖定功能,儀器周圍與環(huán)境背景一致;
7、氣氛保護:可以加氫氣或氦氣氣氛保護系統(tǒng),提升輕元素檢出能力;
8、具備無標定量分析能力,基本參數(shù)法與*數(shù)學模型定量精度:主量元素1%-90%,相對誤差±10%;雜質(zhì)元素0.01%-1%,相對誤差±15%;微量元素0.0001%-0.01%,相對誤差±20%;
9、可以依賴標準物質(zhì)建立校準曲線,實現(xiàn)更精確定量能力;
10、元素分析范圍:Na-U
11、 檢出限:S/Cl LOD=10mg/kg,Pb/As LOD=0.07mg/kg,Cd LOD=0.06mg/kg
(水基體,元素分析時間300秒)
12、重復性:Pb/As/Cd 1=5.0mg/kg RSD<5%
(土壤基體,元素分析時間300秒,連續(xù)分析7次)
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