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首頁>>北京精科智創科技發展有限公司>>產品展示>>材料高溫電學測試儀>>高溫四探針綜合測試系統

  • TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀 參考價：9999

    TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀一款兼具薄膜和塊體（可擴展）的測試各種薄膜材料在高溫、真空、氣氛條件下的電阻和電阻率，可以用來分析樣品的電阻率隨溫度變化曲...
    型號： 廠商性質：生產商所在地：北京市 對比
    薄膜變溫電阻變溫電阻薄膜電阻
    2024/11/6 14:29:06683

  • 四通道同屏對比測試高溫介電溫譜測量系統 參考價：9999

    四通道同屏對比測試高溫介電溫譜測量系統運用三電極法設計原理測量，并參考美國 A.S.T.M 標準。采用Labview系統開發具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜...
    型號： SPJD-1200... 廠商性質：生產商所在地：北京市 對比
    SPJD-1200
    2024/11/6 14:28:401296

  • 高溫四探針綜合測試系統（包含薄膜 參考價：9999

    GWST-1000型高溫四探針綜合測試系統（包含薄膜，塊體功能）是為了更方便的研究在高溫條件下的半導體的導電性能，該系統可以*實現在高溫、真空及惰性氣氛條件下測...
    型號： GWST-1000 廠商性質：生產商所在地：北京市 對比
    四探針綜合測試系統高溫四探針四探針綜合四探針系統
    2024/11/6 14:27:381416
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