PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業內，特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。
雙折射測量儀PA-Micro主要特點：
操作簡單，測量速度可以快到3秒。
視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。
更直觀的全面讀取數據，無遺漏數據點。
具有多種分析功能和測量結果的比較。
維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。
高達2056x2464像素的偏振相機
雙折射測量儀PA-Micro應用領域：
通信光纖
晶體
醫學細胞
技術參數：
項次 | 項目 | 具體參數 |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】 |
2 | 測量波長 | 520nm |
3 | 雙折射測量范圍 | 0-130nm |
4 | 測量小分辨率 | 0.001nm |
5 | 測量重復精度 | <1nm（西格瑪） |
6 | 視野尺寸 | 142x170um到3.5x4.2mm |
7 | 選配鏡頭視野 | 無 |
8 | 選配功能 | 實時解析軟件，鏡片解析軟件，數據處理軟件，實現外部控制 |
測量案例： 
化工儀器網