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詳細介紹
LBTA款涂層測厚儀主要用途：
本儀器采用了磁性和渦流測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度 。
LBTA款涂層測厚儀技術參數：
測量范圍 | 0-1250mm |
測量精度 | ±3%H±1.5ｕm |
顯示精度 | 0~99.99ｕm:0.1ｕm 100ｕm以上：1ｕm |
zui小基體 | 10X10mm |
zui小曲率 | 凸：5mm 凹：25mm |
zui薄基體 | 0.5mm |
環境溫度 | 0℃~40℃相對濕度：不過85% |
電源 | DC9VX1 |
圖片展示
涂層測厚儀主要用途：
本儀器采用了磁性和渦流測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度 。
涂層測厚儀采用了磁性和渦流測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度 。
涂層測厚儀采用了磁性和渦流測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度 。
涂層測厚儀技術參數：
測量范圍 | 0-1250mm |
測量精度 | ±3%H±1.5ｕm |
顯示精度 | 0~99.99ｕm:0.1ｕm 100ｕm以上：1ｕm |
zui小基體 | 10X10mm |
zui小曲率 | 凸：5mm 凹：25mm |
zui薄基體 | 0.5mm |
環境溫度 | 0℃~40℃相對濕度：不過85% |
電源 | DC9VX1 |
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