用途:
PLS Plus激光微地貌掃描儀基于三角測量原理測量地表微地貌高程,采用激光掃描獲取各點高程,測量精度可以達到亞毫米級,測量過程無需接觸土壤表面,解決了測針法對土表擾動的弊端,測量結果更可靠,能準確反映地表微地貌的細微變化。
原理及應用:
利用線性激光的反射與CCD成像原理,將地表形態轉換成不同物象點位置的電信號,再經計算機軟件處理成數字高程模型(DEM),進而評價土壤侵蝕程度或進行相關機理研究。相對于PLS第一代產品,掃描速度更快,精度更高,采用筆記本電腦采集數據,野外使用更加方便。
應用領域:
■土表微地貌特征評價指標篩選與算法實現
■連續降雨過程中土表微地貌特征演變
■不同粗糙度土表粗糙度模型建立
■不同坡度剖面侵蝕及侵蝕泥沙分布
實測圖:
技術參數:
■剖面分辨率:0.5 mm
■垂直分辨率:0.1 mm
■測量寬度:60 cm
■測量長度:最大3 m
■每分鐘可掃描大于400個剖面
■實驗室和野外都可使用
■沒有土壤類型限制
■數據為XYZ 高程或矩陣數據
儀器配置:
主系統: ■3米移動滑軌(長度可按要求定制) ■激光器發射器 ■CCD照相機及鏡頭 ■筆記本電腦(可選野外筆記本電腦) ■系統控制箱 ■野外使用可選蓄電池或交流電供電(需訂購時說明) | 移動框架: ■鋁合金框架 ■4個萬向輪 ■4個水平調整器 ■掃描儀固定裝置 |