特點:
便攜堅固的鋁制外殼設計
APOGEE 的余弦校正器,確保低角度光的準確測量
在標定的測量范圍300—1000nm((NIST 可追溯性)內分辨率小于1nm
技術規格:
探頭主體 | |
波長靈敏度 | 350~1150nm |
輻射校正范圍 | 350~1000nm |
波長分辨率 | 1nm |
檢測器類型 | CCD 2048像素 |
光柵類型 | 全息光柵和羅蘭光柵,600 g/nm |
數字轉化 | 16 bit |
信號噪聲比 | 1000:1 |
雜散光 | 0.1%在435nm ; 0.5%在600nm |
測量重復性 | <1% |
波長不確定性 | ±10% |
檢測器曝光時間 | 1ms-65s |
方向響應 | ±5%(80°天頂角) |
輸出接口 | USB 2.0 |
電源要求 | 5V DC/100mA,采用USB線纜 |
工作溫度 | 0-60℃ |
光纜長度 | 2米 |
尺寸 | 25mm×75mm×125mm |
重量 | 500g |
可選附件:
序號 | 名稱 | 型號 | 產品規格說明 | 圖片 |
1 | 反射探頭 | AS-003 | 用于實驗室光譜儀的反射率探頭 | |
2 | 反射測量標準盤 | AS-004 | 測量反射光譜時先用它對AS-003進行標準測量 |
產地:美國