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上海富瞻環保科技有限公司
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當前位置:上海富瞻環保科技有限公司>>分析儀器>>粒度儀粉體設備>> SediGraph III Plus 5125全自動X光沉降粒度分析儀

全自動X光沉降粒度分析儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號SediGraph III Plus 5125

品       牌micromeritics/麥克默瑞提克

廠商性質生產商

所  在  地上海市

更新時間:2024-11-08 19:57:22瀏覽次數:131次

聯系我時,請告知來自 化工儀器網
產地類別 國產 分散方式 干濕法分散
價格區間 面議 儀器種類 動態光散射
應用領域 環保,化工,生物產業,石油,制藥
SediGraph III Plus 5125
全自動X光沉降粒度分析儀
可靠且成熟的粒度分析儀
在過去的 50 多年,是全球沉降粒度分析領域的標準
根據斯托克斯定律確定粒徑
粒徑分析時實時監測顆粒沉降過程并查看報告的粒徑結果
全自動運行并通過先進的軟件界面實現控制
可選配 MasterTech 自動進樣器實現高通量測試
礦業、地質和陶瓷等眾多主流行業的行業標準
符合 ASTM B761-0

SediGraph III Plus 5125

全自動X光沉降粒度分析儀

可靠且成熟的粒度分析儀

  • 在過去的 50 多年,是全球沉降粒度分析領域的標準

  • 根據斯托克斯定律確定粒徑

  • 粒徑分析時實時監測顆粒沉降過程并查看報告的粒徑結果

  • 全自動運行并通過先進的軟件界面實現控制

  • 可選配 MasterTech 自動進樣器實現高通量測試

  • 礦業、地質和陶瓷等眾多主流行業的行業標準

  • 符合 ASTM B761-06 和先進陶瓷委員會 C28 的要求


SediGraph III Plus 基于直接檢測質量濃度確定粒度分布和統計數據,例如 D10、D50 和 D90。 只需一鍵即可獲得基本和高級報告。 SediGraph III Plus 可選配 MasterTech 自動進樣器,連續監測生產過程,并將數據推送到網絡或云端以供遠程訪問。

 

性能與優點:

智能設計特性

SediGraph III Plus 粒度分析儀先進的設計確保了測量的重復性和使用的便利性。 全新功能使得儀器的操作和維護更加輕松,并且能夠確保對同一樣品在任意一臺 SediGraphs 儀器上都能獲得可靠、重現的結果。

 

設計改進包括:

  • 完整的顆粒分析,能夠確保對樣品中的所有顆粒進行分析,包括粒徑小于 0.1 µm 的部分

  • 能夠與其他粒徑測量方法獲得的數據合并,從而將數據報告范圍擴展到 125000 µm (125 mm),在地質學方面有很好的應用

  • 自下而上地掃描沉降池,能夠準確地獲取快速沉降顆粒的總數,同時盡可能縮短細顆粒分離所需的時間

  • 全自動操作模式能夠提高樣品分析通量,并且減少人為操作步驟,以降低由人為操作造成的測量誤差

  • 溫控分析可確保在整個分析過程中液體的性質保持恒定,獲得精確的分析結果

  • 多種分析速度,可根據實際需要選擇速度和分辨率

  • 實時顯示,能夠監控當前分析的累積質量圖,以便根據需求即時修正分析程序

  • 統計過程控制(SPC)報告能夠跟蹤過程性能,便于立即對波動變化作出響應

  • 多圖疊加功能,能夠對分析結果進行可視化比較,例如,與參考樣品或基線疊加,或將同一分析數據的兩種不同類型結果圖疊加

  • 數據比較圖,能夠以圖表形式顯示兩組數據集之間的數學差(與參考樣品圖的差異)或某個數據點值高于或低于容差范圍的程度(超標圖)

  • 多分析儀控制,允許使用同一臺計算機控制兩臺 SediGraph ,節省寶貴的實驗室空間,方便數據存儲



規格

顆粒粒徑范圍:0.1 – 300 µm 當量球徑
接觸液體材質:不銹鋼、特氟龍浸漬陽極氧化鋁、鍍鎳鋁、尼龍、聚丙烯、聚苯乙烯、聚乙烯和 Pharmed 管、碳化鎢、超白鋼、氟化橡膠、橡膠 和環氧樹脂
樣品量:50 mL 分散的樣品 – 無需精確的濃度控制
分散劑:與樣品池材料兼容,且不吸收 X 光的液體(如水、乙二醇、礦物油、SediSperse® 和乙醇)
電源要求:85 – 264 VAC,47/63 Hz,450 VA
溫度:運行環境溫度 + 10 °C 至 40 °C;儲存或運輸溫度范圍為 -10 °C 至 55 °C
濕度:20% 至 80%(無冷凝)
其他信息:ISO 9001 制造商 CE 認證
實體規格:高度: 52 cm(20.5 英寸)
寬度: 50.5 cm(20 英寸)
深度: 58 cm(23 英寸)
重量: 43 kg(95 磅)






















技術

Micromeritics的 SediGraph 是全球眾多實驗室粒度分析的標準儀器。 無論是在惡劣的生產環境中還是在受控的實驗室環境下,SediGraph 憑借其的性能,提供可靠準確的結果。 該儀器采用X光沉降法測量粒度分布,通過樣品對 X 射線的吸收直接測量顆粒質量。 SediGraph根據斯托克斯定律,通過測量顆粒在已知特性的液體中的沉降速率,能夠得出粒徑范圍在 0.1 – 300 µm間樣品顆粒的等效球徑。

新一代 SediGraph III Plus 粒度分析儀結合成熟及改進的分析技術,能夠提供具備更高重復性和準確度的顆粒粒徑信息,大多數分析在幾分鐘內即可完成。

 

  • 完整的顆粒分析,能夠確保對樣品中的所有顆粒進行分析,包括粒徑小于 0.1 µm 的部分

  • 能夠與其他粒徑測量方法獲得的數據合并,從而將數據報告范圍擴展到 125000 µm (125 mm),在地質學方面具有很好的應用

  • 自下而上地掃描沉降池,能夠準確地獲取快速沉降的顆粒總數,同時盡可能縮短細顆粒分離所需的時間

  • 全自動操作模式能夠提高樣品分析通量,并且減少人為操作步驟,以降低由人為操作造成的測量誤差

  • 溫控分析可確保在整個分析過程中液體的性質保持恒定,獲取精確的分析結果

  • 多種分析速度,可根據實際需要選擇速度和分辨率

  • 實時顯示,能夠監控當前分析的累積質量圖,以便根據需求即時修正分析程序

  • 統計過程控制(SPC)報告能夠跟蹤過程性能,便于立即對波動變化作出響應

  • 多圖疊加功能,能夠對分析結果進行可視化比較,例如,與參考樣品或基線疊加,或者將同一分析數據的兩種不同類型結果圖疊加

  • 數據比較圖,能夠以圖表形式顯示兩組數據集之間的數學差(與參考樣品圖的差異)或某個數據點值高于或低于容差范圍的程度(超標圖)

  • 多分析儀控制,允許使用同一臺計算機控制兩臺 SediGraph ,節省寶貴的實驗室空間,方便數據存儲


應用

陶瓷:顆粒的粒度范圍和質量分布極大影響陶瓷粉末的燒結能力、成型性能乃至成品中的孔徑分布。 顆粒粒度分布信息有利于檢測固化和粘合過程、控制孔結構、確保足夠的生坯強度,以獲取所需強度、質構、外觀和密度的最終產品。

金屬粉末:通過控制粒度分布,能夠在產品中設計特定的孔結構。孔隙率特性通常是產品性能的關鍵。與陶瓷相似,粒度分布對生坯、最終產品強度和密度都至關重要。

地質/土壤科學:顆粒粒徑會影響土壤的保水能力、排水速度和土壤保持養分的能力。顆粒直徑關系到沉淀物的轉移。

化妝品:化妝品的外觀、使用和包裝直接受基礎原料如滑石粉和著色劑顆粒粒度分布的影響。

顏料:僅粒徑一項就會影響顏色的著色強度。 隨著著色強度的提高,產生相應顏色強度所需的顏料量相應下降。粒徑也會影響涂料的遮蓋力。同時粒徑分布也會影響光澤、質地、顏色飽和度和亮度度。

催化劑:粒徑直接影響金屬對結構敏感催化反應的金屬催化活性。

建筑材料:水泥的粒徑會影響成品混凝土和水泥的凝結時間和強度特性。

礦物和無機化學品:材料的反應性取決于暴露的表面積和粒度分布。

磨料:無論磨料顆粒和粉末是用于漿料、干噴射處理或固結研磨工具,這類材料均衡的粒度分布是基本的考慮因素。均勻的粒徑可確保通過噴砂機時精確的流速,并且是研磨介質循環使用的關鍵因素。



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