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當前位置：上海富瞻環保科技有限公司>>半導體行業儀器>> J200 iXiX飛秒激光剝蝕系統
| 應用領域 | 綜合 |
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簡介
J200 iX飛秒激光剝蝕系統是一款高性能的臺式激光剝蝕設備，適用于高精度同位素及元素比測量。其核心部件為飛秒摻鐿激光器，波長1030nm/343nm，脈沖寬度不超過500飛秒，光斑尺寸可在5-70微米范圍內調節。配備雙體積樣品池、冷凍樣品池、移動平臺及光學成像系統，并支持激光誘導擊穿光譜儀功能升級。該系統包含操作軟件和數據處理軟件，集成于工控機中，確保高效、精準的分析能力。
其它參數
脈沖寬度：500fs
J200 iX飛秒激光剝蝕系統
1 臺式飛秒激光剝蝕系統，直接放置在工作臺面上，使用該設備可以進行高精度同位素和元素比測量進樣。
2 激光源：飛秒摻鐿(Yb-KGW)泵浦激光器，脈沖頻率不低于1Hz-1 KHz可調，激光波長1030nm/343nm, 脈沖寬度：≤500 fsec, 光斑尺寸：可調整光斑尺寸范圍不小于5-70μm。
3 樣品室：雙體積樣品池，冷凍樣品池等
4 移動平臺
5 光學成像。
6 氣路單元
7 激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）功能升級選項
8 操作軟件和數據處理軟件。
9 工控機
Photon Machines團隊（縮寫PMI）的激光剝蝕/激光燒蝕產品線為全球之一，其第一代產品于1995年問世，該品牌具有豐富的激光剝蝕產品設計、研發、制造及應用經驗，產品線涉及213nm固態激光、193nm準分子激光、飛秒激光系統（與ICP-MS聯用），及CO2和二極管激光熔融系統（與惰性氣體同位素質譜聯用），此外多種高性能配件與更加直觀的分析軟件能夠增強并完善系統的功能，足以為全球元素分析用戶提供先進的激光剝蝕技術。
Analyte Excite 準分子激光剝蝕系統采用精細化控制單元，高能量的“平頂 (homogenized-flat)"激光和飛速響應的“邊對邊 (shot-to-shot)"技術帶來高分辨率空間分析能力。創新的“動態剝蝕功能 (fire-on-the-fly)"采用高分辨率XY移動平臺技術，同時移動平臺能夠實時觸發激光的發射，應用于線掃描的深度剝蝕和元素分布圖的分析。另外，高分辨率GigE真彩顯微攝像觀察技術，觀察單元光學分辨率小于2μm，提供透射、反射和環形可調亮度的照明和十字交叉偏振系統，能夠實時顯示實時縮放的動態寬視野場，實現快速樣品定位導航。
結合超短脈沖(<4ns)的193nm氣態準分子激光剝蝕系統，Analyte Excite具有高性價比及更廣泛的高效剝蝕應用范圍。從不透明到高透明樣品，單次剝蝕深度能夠達到10 納米以上，同時光束能量均勻化分布，以確保在整個光斑尺寸范圍內和各種材料上均勻剝蝕。與寬脈沖(20+ns)的193nm激光系統相比，Analyte Excite能夠產生更高的“峰功率"，更加易于剝蝕樣品，產生更細粒徑的氣溶膠，能夠得到更小的剝蝕分餾效應，促使ICP分析信號更加平穩。
超短193nm激光波長
超短脈沖寬度＜4ns
足夠剝蝕各類樣品的能量密度，可達15J/cm2
密閉氣室
激光束能量分布均勻化，剝蝕均勻
標配100x100mm移動平臺
同步“動態剝蝕功能"實現精確的剝蝕深度控制
獨立的視頻和激光光學控制單元，能夠更好的查看樣品剝蝕點
剝蝕光斑范圍1-155μm
標配32個剝蝕光斑，光斑可定制
兼容HelEx II雙體積雙氣路渦流樣品池
支持升級為Analyte Excite+系統，配置更多高能配件，剝蝕光斑范圍1-245μm
環境樣品分析，物證樣品分析，地質樣品分析，同位素定性分析，元素分布圖繪制分析， 流體包裹體分析，深度剝蝕分析，地質年代測定，古溫度測定
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