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190-400nm紫外波段SID4 UV-HR免费试用!

紫外波段SID4 UV-HR免费试用

Phasics波前传感器以横向四波剪切技术闻名，其推出的SID4系列波前传感器以高灵敏度、高分辨率、高重复性的特点更受市场青睐，昊量光电推出免费试用-紫外波段SID4-UV HR样机活动，为190nm-400nm紫外波段科研方向研发助助力，为中国工业提提速！

PHASICS成立于2003年，提供zui先jin的光学计量和成像解决方案，从独立的SID4波前传感器到全自动测试台、Kaleo MTF、MultiWAVE，以及全模块化计量解决方案Kaleo Kit。PHASICS获得专li的波前传感技术被称为四波横向剪切干涉术（QWLSI）。

相位四波横向剪切干涉仪，称为SID4波前传感器，QWLSI技术是为了克服Shack-Hartmann (SH)技术的分辨率不足而开发的。它采用了智能衍射光栅设计，而不是哈特曼测试中使用的孔和夏克在20世纪60年代提出的微透镜。

图1 SID4波前传感器部分测试结果图

★什么是波前传感器?

波前传感器是一种设计用来测量光波前的装置。术语“波前传感器";适用于不需要任何参考光束干扰的波前测量仪器。波前传感器的应用范围很广，如光学测试和对准(表面测量)、传输波前误差测量、调制。

★QWLSI四波横向剪切干涉测量原理

四波横向剪切干涉测量(QWLSI原理) 具有纳米级灵敏度和高分辨率的相位和强度。这项创新技术依靠衍射光栅将入射光束复制成4个相同的波。经过几毫米的传播，4个波纹重叠并干涉，在检测器上产生干涉图。

★QWLSI四波横向剪切干涉技术优势

四波横向剪切干涉测量技术(QWLSI)，也被称为改进哈特曼掩模技术，是一种获得专li的波前传感技术。它以其高空间分辨率，无需中继透镜即可测量发散光束的能力和消色差而脱颖而出。该技术于2004年由Phasics在市场上推出，现在因其性能和易于集成而获得国际认可。

★SID4 UV HR紫外波前传感器特点

在190nm ~ 400nm的紫外波段，SID4 UV HR波前分析仪具备高分辨率(512x512测量点)和高灵敏度。使用范围包括并不局限适用于光学元件表征(光刻、半导体)和表面测量(透镜和晶圆)。

★SID4 UV HR紫外波前传感器参数

关于昊量光电：

上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。