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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子 |
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產品簡介
詳細介紹
DIATEST塞規具有高精密靜態孔徑測量和動態孔徑測量功能。既可用于手動檢測尺寸偏差和形狀缺陷錯誤的孔徑檢測儀器，也可以安裝在測量設備和自動化系統上。測量范圍從Ø 2.98到270mm，測量深度：0.6-2000mm，重復精度：≤1μm，線性誤差：≤1％，使用壽命：滿足100萬次以上測量要求。
DIATEST塞規特點：
- 快速測量孔直徑、孔的圓度和孔的橢圓度
- 尤其適用于手動和自動測量大批量生產的高公差等級內孔零件
- 自動定中心，測量時不用在孔內尋找拐點
- 使用數顯顯示表讀數和對測量結果進行后續分析的理想選擇
- 孔徑測量儀的測頭由鍍硬鉻圓柱導向體和碳鋼測點組成
- 碳鋼測針將測點的徑向移動距離1:1傳遞給顯示表
- 內置式彈性體提供了連續的測力，因此消除了人為因素
- 孔徑測量儀由塞規式測頭、手柄、深度延長桿、限位塊和直角附件等組成模塊式系統，使用范圍廣泛
- 適用范圍：通孔、盲孔、錐孔、臺階孔、方孔等
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DIATEST標準塞規式測頭形式
BMD-S4-CR-7.04、BMD-S6-CR-10.0、BMD-S10-CR-39.993、BMD-S10-CR-124.96
DIATEST通孔塞規式測頭形式
BMD-D4-CR-4.98、BMD-D6-CR-10.0、BMD-D10-CR-41.97
BMD-D10-CR-59.977、BMD-D10-CR-100.00
DIATEST盲孔塞規式測頭形式
BMD-FB6-CR-8.984
BMD-FB10-CR-41.973
BMD-FB10-CR-59.977
BMD-FB10-CR-100.00
DIATEST自動測量用塞規式測頭
BMD-D10-CR-30.0-RK
BMD-D10-CR-30.0-PK-2Z-Φ2Z=30-0.4mmm
BMD-D10-OCR-30.0-RK-ZHML
DIATEST特殊形式BMD塞規式測頭
BMD-S10-CR-28.0-S-FB-L1=3.0
BMD-S10-CR-30.0-OR-FASE0.5x45°
BMD-S10-CR-30.0-UM
BMD-S10-CR-10.0-2R
BMD-S10-CR-35.0-3P
BMD-D10-CR-28.0-SO-TA-L3=11
DIATEST測量平行槽用PA測頭
BND-PA-4-S-MCR-4.35、BND-PA-4-S-MCR-6.3
DIATEST多截面測頭
BMD-1ME、BMD-2ME-13-10、BMD-2ME-13-12、BMD-2ME-15-9、BMD-2ME-15-18
BMD-2ME-20-1、BMD-2ME-20-2、BMD-3ME-13、BMD-3ME-20、BMD-3ME-0-24-1
BMD-4ME-20-1、BMD-4ME-24-26-2、BMD-4ME-24-26-3、BMD-4ME-24-26-4
BMD-4ME-24-26-5、BMD-4ME-24-26-6、BMD-8ME-20-38
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