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當(dāng)前位置:蘇州福佰特儀器科技有限公司>>鍍層厚度測(cè)試儀>> EDX600 PLUSX-RAY測(cè)厚儀 鍍金鍍銀厚度測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào)EDX600 PLUS
品 牌SKYRAY/天瑞儀器
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地蘇州市
更新時(shí)間:2024-09-12 08:48:32瀏覽次數(shù):741次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 化工儀器網(wǎng)產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,電子,航天,汽車,綜合 | 分辨率 | 140EV |
X-RAY測(cè)厚儀 鍍金鍍銀厚度測(cè)試儀是集多年X熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn),專門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行精準(zhǔn)檢測(cè)。可廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。
鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法: 1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-2005 2、X-ray法(X射線法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-2005 3、庫侖法,此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005
X-RAY測(cè)厚儀 鍍金鍍銀厚度測(cè)試儀測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1國標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法 2.美國標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08 Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
應(yīng)用行業(yè)
1、 電子半導(dǎo)體行業(yè)接插件和觸點(diǎn)的厚度測(cè)量 2、 印刷線路板行業(yè)功能鍍層厚度測(cè)量 3、 貴金屬首飾手表行業(yè)鍍層厚度測(cè)量 4、 五金電鍍行業(yè)各種防腐性、裝飾性及功能鍍層厚度測(cè)量
參數(shù)規(guī)格
1.分析元素范圍:硫(S)~鈾(U);
2.同時(shí)檢測(cè)元素:多24個(gè)元素,多達(dá)5層鍍層;
3.分析含量:一般為2ppm到99.9%;
4.鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同);
5.SDD探測(cè)器:分辨率低至135eV;
6.的微孔準(zhǔn)直技術(shù):小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm;
7.樣品觀察:配備全景和部兩個(gè)工業(yè)高清攝像頭;
8.準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合;
9.儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm;
10.樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm;
11.樣品臺(tái)尺寸:393(W)x 258 (D)mm;
12.X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s;
13.X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度:小于0.1um;
測(cè)試實(shí)例
在計(jì)數(shù)率的情況下能分辨相近元素,大大提高測(cè)試穩(wěn)定性、降低檢測(cè)限。
11次測(cè)量結(jié)果(Au-Cu)的穩(wěn)定性數(shù)據(jù)對(duì)比如下:
次數(shù) | Thick8000 | 行業(yè)內(nèi)其他儀器 |
1 | 0.042 | 0.0481 |
2 | 0.043 | 0.0459 |
3 | 0.043 | 0.0461 |
4 | 0.0412 | 0.0432 |
5 | 0.0429 | 0.0458 |
6 | 0.0436 | 0.0458 |
7 | 0.0427 | 0.0483 |
8 | 0.0425 | 0.045 |
9 | 0.0416 | 0.0455 |
10 | 0.0432 | 0.0485 |
11 | 0.0422 | 0.043 |
平均值 | 0.0425 | 0.0459 |
標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 0.0007 | 0.0019 |
相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 1.70% | 4.03% |
極差 | 0.0024 | 0.0055 |
測(cè)試結(jié)論:實(shí)驗(yàn)表明,使用電鍍膜厚測(cè)試儀對(duì)鍍件膜厚測(cè)試,結(jié)果度高,速度快(幾十秒),其測(cè)試精度優(yōu)于國外儀器。
X射線和β射線法是無接觸無損測(cè)量,測(cè)量范圍較小,X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。
β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。
隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后,采用X射線鍍層測(cè)厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。
應(yīng)用領(lǐng)域
電鍍行業(yè)
五金衛(wèi)浴
電子電器
磁性材料
航天新能源
汽車制造
貴金屬鍍飾......
五金電鍍層膜厚儀設(shè)計(jì)亮點(diǎn)
全新的下照式設(shè)計(jì),一鍵式的按鈕,讓您的鼠標(biāo)鍵盤不再成為必須,極大減少您擺放樣品的時(shí)間。
全新的光路系統(tǒng),大大減少了光斑的擴(kuò)散,實(shí)現(xiàn)了對(duì)更小產(chǎn)品的測(cè)試。
搭配高分辨率可變焦攝像頭,配合高性能距離補(bǔ)正算法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面,拱形,螺紋,曲面等)的異型測(cè)試面的精準(zhǔn)測(cè)試。
硬件配置
采用高分辨率的SDD探測(cè)器,分辨率高達(dá)140EV進(jìn)口的大功率高壓,讓Ag,Sn等鍍層的測(cè)量能更加穩(wěn)定。
配備微聚焦的X光管,猶如給發(fā)動(dòng)機(jī)增加了渦輪增壓,讓數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性更上層樓。
多種準(zhǔn)直器可搭配選擇:0.1*0.2mm;Φ0.15mm;Φ0.2mm;Φ0.3mm。貼心打造出適合您的那一款。
軟件界面
人性化的軟件界面,讓操作變得更加便捷。曲線的中文備注,讓您的操作更易上手。儀器硬件功能的實(shí)時(shí)監(jiān)控,讓您的使用更加放心
鍍層測(cè)厚儀主要功能
1、測(cè)量:單探頭全量程測(cè)厚,儀器自動(dòng)補(bǔ)償偏差值。
2、數(shù)據(jù)管理: 通過分組的方式來管理存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。一共分6組,每組包含99個(gè)數(shù)據(jù)。 可以對(duì)任意一組數(shù)據(jù)進(jìn)行查看、刪除、打印以及通信操作。
3、測(cè)量模式:包括常規(guī)測(cè)量模式和監(jiān)控測(cè)量模式兩類測(cè)量模式。可以在不同的工作現(xiàn)場下給用戶提供不同的使用方式,以解決現(xiàn)場的需求。
a、常規(guī)測(cè)量
測(cè)量時(shí)儀器只顯示測(cè)量數(shù)據(jù)的基本信息,能夠滿足用戶最基本的測(cè)量需要。
b、最小值捕捉
測(cè)量數(shù)據(jù)時(shí),儀器會(huì)自動(dòng)捕捉到最小的測(cè)量值。如果工廠驗(yàn)收以樣品的最小厚度值為檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的話,那么這種測(cè)量模式無疑是選擇。
c、統(tǒng)計(jì)測(cè)量
在這種模式下,儀器的功能欄里會(huì)同時(shí)顯示出測(cè)量數(shù)據(jù)的值、最小值、平均值、測(cè)量次數(shù)。給用戶提供更加直觀和方便的數(shù)據(jù)分析,進(jìn)而對(duì)現(xiàn)場工件的優(yōu)劣情況進(jìn)行實(shí)時(shí)的觀測(cè)。
這是一款X射線熒光光譜儀原理的金屬鍍層測(cè)厚分析儀,滿足鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍錫,鍍鉻,鍍鋅,鍍銅等膜厚分析。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)
*超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測(cè)速度、超人性化界面
*易于使用,一鍵操作,即可獲得鍍層厚度及組成成份的分析結(jié)果
*有助于識(shí)別鍍層成分的創(chuàng)新型功能
*機(jī)身結(jié)構(gòu)小巧結(jié)實(shí),外形十分漂亮,適合放置于陳列展室
*按下按鈕的數(shù)秒之內(nèi),即可得到有關(guān)樣件鍍層厚度的精確結(jié)果
*使用PC機(jī)和軟件,可以迅速方便地制作樣件的檢驗(yàn)結(jié)果證書
*用戶通過攝像頭及艙內(nèi)照明系統(tǒng),可看到樣件測(cè)試位置,提升了用戶測(cè)試信心
*Thick系列分析儀測(cè)試數(shù)據(jù)可以下載和上傳網(wǎng)絡(luò),檢測(cè)結(jié)果易于查看和分享
*有X射線防護(hù)鎖,只有在封閉狀態(tài)下才發(fā)射X射線,安全、可靠的保證客戶使用
XRF鍍層測(cè)厚儀俗稱X射線熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等,主要用于精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度。
XRF鍍層測(cè)厚儀:俗稱X射線熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等;功能:精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度;應(yīng)用范圍:測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測(cè)量范圍從22(Ti)到92(U);5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光譜定性分析;測(cè)試方法面符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987應(yīng)用群體主要集中在:電路板、端子連接器、LED、半導(dǎo)體、衛(wèi)浴潔具、五金電鍍、珠寶首飾、汽車配件、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及研究所和高等院校等;原理:X射線熒光什么是X射線?X射線存在于電磁波譜中的個(gè)特定區(qū)域,它由原子內(nèi)部電子躍遷產(chǎn)生,其波長范圍在0.1-100?;能量大于100電子伏特.什么是X射線熒光?X射線熒光 是個(gè)原子或分子吸收了特定能量的光子后釋放出較低能量的光子的過程。
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