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無損檢測
1、貴金屬的稀缺與寶貴，讓灰吹法等傳統的破壞性檢測方法越來越不適用，市場上迫切需要一種快速、準確、無損的檢測方法，而X射線熒光光譜法無非是的貴金屬無損檢測方法。
規避交易風險
2、社會上金銀首飾摻假現象時有發生，不論是商家還是顧客都為此蒙受巨大的損失，而西凡科技的金銀檢測儀可以讓金銀首飾的真實含量準確呈現，在這種公平
產品簡介
詳細介紹
貴金屬檢測儀EXF9600 產品優勢
性價比高
可以快速準確檢測各種貴金屬，應用廣泛！
無損檢測
不會對珠寶首飾等被測樣品造成任何損壞。
操作簡單智能
獨有一鍵測試功能，自動化檢測無需配備專業人員
檢測快速。
秒定性，7秒可得出直觀結果。
便于攜帶
一體化設計，占用空間小，便于攜帶與管理。
安全耐用
具備反輻射功能，整機壽命超過10年
精準度高
ppm級精確度，可靠的檢測數據，±0.01%的檢測精準度。
操作安全
加裝防輻射裝置，主動保護操作人員安全。
技術參數
設備原理：X熒光能量色散
精確度: ±0.03%
整機分辨率：145eV±5eV
探測器： 進口Si-Pin探測器
適用溫度： -11~46℃
內置電容觸摸LED屏：是（9.7吋OLED）
尺寸： 670×400×330mm
標簽打印機：支持
普通打印機：支持
熱敏打印機：支持
天平/密度儀：支持
電池支持：否
內置工控計算機：是
電壓： 100V～240V
額定功率：150W
重量：33公斤
標準配置
•主動式射線保護
•全局故障診斷
•擴展線材及輔助支架
•高壓過壓保護
•升降壓預啟動
•光管過執保護
•擴展屏