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四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀

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更新時(shí)間:2024/12/17 17:11:03瀏覽次數(shù):2046

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產(chǎn)地類(lèi)別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 1萬(wàn)-3萬(wàn)
應(yīng)用領(lǐng)域 電氣,綜合 自動(dòng)化度 手動(dòng)
四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造;GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā?

詳細(xì)介紹

LST-332普通四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀

  1. 四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀描述:

   采用范德堡測(cè)量原理能解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,提供通訊接口,PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語(yǔ)言版本.

二.參照標(biāo)準(zhǔn):

   硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā?/span>.

三.適用范圍:

適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗(yàn)和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具;液晶顯示,自動(dòng)測(cè)量和系數(shù)補(bǔ)償,并帶有溫度補(bǔ)償功能,自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程;采用AD芯片控制,恒流輸出,選配:PC軟件,保存和打印數(shù)據(jù),生成報(bào)表

用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試等相關(guān)產(chǎn)品

 

四.型號(hào)及參數(shù)

 

規(guī)格型

LST-332

1.方塊電阻范圍

10-4~2×105Ω/□

2.電阻率范圍 

10-5~2×106Ω-cm

 

測(cè)試電流范圍

 

10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

4.電流精度 

±0.2%

 

5.電阻精度

≤0.3%

6.顯示讀數(shù)

液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測(cè)試方式

普通單電測(cè)量

8.工作電源

輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W 

9.誤差

4%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果)

10.選購(gòu)功能

選購(gòu)1.pc軟件; 選購(gòu)2.方形探頭; 選購(gòu)3.直線(xiàn)形探頭; 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái);5.標(biāo)準(zhǔn)電阻

11.測(cè)試探頭

探針間距選購(gòu):1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu):碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

 

配套方案:解決各材料狀態(tài) --固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài)、顆粒狀 電阻、電阻率、電導(dǎo)率測(cè)量

 

縱橫金鼎儀器-------專(zhuān)注于新材料測(cè)量與分析儀器解決方案  

 

----解決材料:

導(dǎo)體、半導(dǎo)體、絕緣材料常溫及高溫等環(huán)境下電性能分析.

 

----我們一直在做:

研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售、租賃、實(shí)驗(yàn)室樣品分析及后延擴(kuò)展服務(wù).

 

 

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