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似空科學(xué)儀器（上海）有限公司>>其它科學(xué)儀器設(shè)備>>探針臺(tái)>> M-300藍(lán)岸探針臺(tái)M系列

藍(lán)岸探針臺(tái)M系列

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參考價(jià)￥100000-￥600000/件
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

  • 型號(hào)

    M-300

  • 品牌

    藍(lán)岸

  • 廠商性質(zhì)

    代理商

  • 所在地

    上海市

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更新時(shí)間：2023/08/30 18:54:05瀏覽次數(shù)：870

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掌握晶圓檢測(cè)核心技術(shù)——專(zhuān)注半導(dǎo)體探針測(cè)試領(lǐng)域

詳細(xì)介紹

 

 

 

 

 

LANANtek M系列探針臺(tái)

 

主要特點(diǎn)
●可選配高溫測(cè)試環(huán)境
●可選直筒顯微鏡，體式顯微鏡或金相顯微鏡
●載物臺(tái)可Z軸升降
●載物臺(tái)Theta可粗調(diào)360°，微調(diào)±7°
●載物臺(tái)XY移動(dòng)分辨率為1um
●可選配高壓高流測(cè)試環(huán)境
●快速裝片并可任意位置鎖定功能
●穩(wěn)定型顯微鏡橋架，移動(dòng)分辨率為2um，顯微鏡氣動(dòng)升降
 
 
 
 
選配附件
●射頻測(cè)試探頭及電纜
●低漏電電流/電容測(cè)試
●激光修復(fù)
●探針卡/封裝/PCB 板夾具
●有源探頭
●高壓高流模塊
●高清數(shù)字相機(jī)
●Hot Chuck
●載物臺(tái)水平調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)
 
 
 
 
應(yīng)用領(lǐng)域
●Failure analysis 集成電路失效分析
●Wafer level reliability 晶元可靠性認(rèn)證
●Device characterization 元器件特性量測(cè)
●Process modeling 塑性過(guò)程測(cè)試(材料特性分析)
●IC Process monitoring 制成監(jiān)控
●Package part probing IC封裝階段打線品質(zhì)測(cè)試
●ESD&TDR testing ESD和TDR測(cè)試
●Microwave probing 微波量測(cè)(高頻測(cè)試)
●Solar太陽(yáng)能領(lǐng)域檢測(cè)分析
●LED、OLED、LCD領(lǐng)域檢測(cè)分析
●PCB領(lǐng)域檢測(cè)分析
●VESEL DFB,COC,硅光等光電器件測(cè)試
兼容測(cè)試儀器
●各種型號(hào)示波器
●各品牌半導(dǎo)體參數(shù)分析儀，博測(cè)，是德，泰克，概倫等
●各種品牌的網(wǎng)絡(luò)分析儀，是德，羅德施瓦茨，思儀等
●各種品牌型號(hào)的源表
 
 
 
 
 
 
 

 

 

        

 

 

 

 


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