核心優(yōu)勢.ore strengths

配套自主知識產(chǎn)權(quán)XRD 數(shù)據(jù)分析軟件 包，可以完成物相鑒定及定量分析工作

較高的信噪比，提高采樣效率，數(shù)據(jù) 采集時間小于15~20 分鐘。 (半導(dǎo)體

樣品小于5分鐘)

良好光路系統(tǒng)設(shè)計，物相定量分析達 到臺式機的水平，檢出限大于3wt.%,  相對誤差優(yōu)于10%

選擇使用Mo 靶光源，能量更高，無 需換靶即可完成絕大部分晶體測試，且可提高樣品的裝填厚度

技術(shù)參數(shù)Technical paramete

應(yīng) 用 案 例Application case

標(biāo)準(zhǔn)物測量：

對國際晶體學(xué)會(IUCr)提供的三組標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)進行定量分析測試，結(jié)果如圖所示。IUCr  數(shù)據(jù)為樣品實際稱重

數(shù)據(jù)。

從上述三組標(biāo)樣分析對比結(jié)果可以看出， TopMINI 的分析精度誤差<3%,檢出限為1%

分析結(jié)果見下圖。