常溫半導(dǎo)體測試 氣敏測試 大氣探針臺(tái) 參考價(jià):面議
常溫半導(dǎo)體測試 氣敏測試 大氣探針臺(tái)是一種用于半導(dǎo)體器件電性能測試的重要設(shè)備,通常由精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺(tái)可以對(duì)半導(dǎo)體芯片...大氣探針臺(tái) 電信號(hào)測試 參考價(jià):面議
大氣探針臺(tái) 電信號(hào)測試是一種用于半導(dǎo)體器件電性能測試的重要設(shè)備,通常由精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺(tái)可以對(duì)半導(dǎo)體芯片、集成電路和其...常溫探針臺(tái) 電信號(hào)測試 參考價(jià):面議
常溫探針臺(tái) 電信號(hào)測試 是一種用于半導(dǎo)體器件電性能測試的重要設(shè)備,通常由精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺(tái)可以對(duì)半導(dǎo)體芯片、集成電路和...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)