當前位置:艾因蒂克科技(上海)有限公司>>膠片掃描儀>>ARRAY膠片掃描儀>> ARRAY 2905 / 2905HDARRAY 膠片掃描儀 工業膠片數字化 Film掃描
產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 化工,石油,能源,交通,航天 |
ARRAY 膠片掃描儀 工業膠片數字化 Film掃描
• 12 bits(4096灰階、線性光學密度)豐富的動態范圍
• 掃描像素50µm到500µm可調(步距1µm)
• 數字化一張14x17英寸的底片僅需6秒鐘(標準點距200µm)
• 專業的掃描軟件和功能強大的圖像評定/管理應用軟件
ARRAY 膠片掃描儀 工業膠片數字化 Film掃描?
底片數字化掃描儀
是性能的底片數字化設備,它能將所有標準格式的底片數字化;底片大寬度達到14英寸(36cm), 無長度限制;分辨率在50µm和500µm之間,掃描速度快、圖像質量高。全鋼制的結構和外殼滿足任何工 業無損檢測應用環境下的堅固度,以有效保護激光和光學部件。Array 2905HD是世界上一部可以在ISO和GB標準規定的全黑度值范圍內(D=0.5~4.5),數字化工業X射線底片的掃描儀。Array 2905HD*符合EN14096第2部分對DS級底片數字化系統的要求。Array 2905HD的這個鑒定評級于2003年9月2日通過了BAM(德國聯邦材料研究與測試研究所)的審核和確認。
主 要 | 技 術 參 數 | |||
項目 | 參數 |
| 項目 | 參數 |
掃描對象 | 工業X射線底片 |
| 掃描時間 | 約6秒鐘(14? x 17?,標準點距200µm) |
黑度范圍 | 0.00 – 4.00 (2905) |
| 掃描點距 | 50 – 500μm (步距1µm可調) |
| 0.00 – 4.70 (2905HD) |
| 光源 | 氦氖激光,波長633nm |
底片尺寸 | 短邊小于 364mm,無長度限制 |
| 檢測方式 | 光學多棱鏡 + F-θ 透鏡 |
自動掃描(100張底片容量。支持混合尺寸,無需人工預先分揀) | 14? × 17? (縱) |
| A/D 轉換 | 14 bits / 164846 灰 階 |
14? × 14? |
| 有效輸出 | 12 bits | |
11? × 14? (縱 + 橫) |
| 內置LUT | 輸入14 bits / 輸出16 bits | |
10? × 12? (縱 + 橫) |
| 內置存儲器 | 標準配置128MB,大512MB(選配) | |
8? × 10? (縱 + 橫) |
| 硬件接口 | USB 2.0 | |
5? × 12? (縱) |
| 操作系統 | Windows 2000/ME/NT/XP | |
B4 (縱 + 橫) |
| 重量 | 45 kg | |
18cm × 43cm (縱) |
| 電源 | AC 200-240V, 50Hz | |
30cm × 40cm (縱) |
| 功率 | 400W | |
20cm × 40cm (縱) |
| 軟件 2905 Scan Suite | 掃描設定 | |
15cm × 40cm (縱) |
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| 灰度調整 | |
30cm × 35cm (縱 + 橫) |
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| 連續變焦 | |
30cm × 30cm |
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| 黑度測量 | |
24cm × 30cm (縱 + 橫) |
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| 輸出圖像設定 | |
15cm × 30cm (縱) |
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| TWAIN數據來源 | |
24cm × 24cm (縱) |
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| 簡易掃描程序 | |
18cm × 24cm (縱) |
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| 波紋減少方式 | |
外形尺寸 | W526 × H330 × D764mm |
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| 支持第三方軟件開發工具包 |
可選附件
• 多100張底片的自動掃描,支持混合尺寸,無需人工預先分揀。
Array 2905使用氦氖激光束,通過一個多棱鏡系統掃描底片,F-Theta透鏡可確保激光束的光學距離到掃描區域的各個點保持不變,從而避免了圖像失真。對數放大程序保證了信號噪聲比至黑度4.70(Array 2905HD)。每部掃描儀均在發貨時經過校準和特性化,參數內置于的LUT,每次開機時Array 2905都會利用*的邏輯系統自行校準。為了確保掃描質量,巧妙的反饋系統設計使得灰塵和污垢的影響降至低。這一切確保了高精度、高速度和可重復性的無偽像數字化掃描。
Array 2905的用戶客遍布世界各個工業領域,包括核能、石化、航空航天、軍工、船舶以及各類特種設備等行業。 Array Cooperation 范圍內的大客戶包括:AGFA NDT (愛克發無損檢測公司) ;GE Inspection Technologies LLC (美國通用電氣 GE檢測科技公司) ;Fuji NDT Systems USA (富士美國無損檢測系統公司) ;Computerized Information Technology Ltd. (英國CIT公司),等等。
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