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目錄:卡爾蔡司(上海)管理有限公司>>電子顯微鏡>>雙束電鏡>> FIB - 蔡司雙束電鏡Crossbeam系列

FIB - 蔡司雙束電鏡Crossbeam系列
  • FIB - 蔡司雙束電鏡Crossbeam系列
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
參考價 面議
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  • 品牌 ZEISS/蔡司
  • 型號
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時間:2024-12-09 14:05:33瀏覽次數:9193評價

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蔡司雙束電鏡Crossbeam系列,是專為高通量3D分析和樣品加工制備量身打造的FIB-SEM雙束電鏡。該系列將場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒強大的成像和分析性能與全新一代聚焦離子束(FIB)鏡筒出色的加工能力相結合。

蔡司雙束電鏡 Crossbeam系列
 

[產品簡介]

蔡司雙束電鏡Crossbeam系列,是專為高通量3D分析和樣品加工制備量身打造的FIB-SEM雙束電鏡。該系列將場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒強大的成像和分析性能與全新一代聚焦離子束(FIB)鏡筒出色的加工能力相結合。無論是加工、成像或進行3D分析,都能在不損失精度的前提下,提高聚焦離子束的應用效率。模塊化的平臺概念可以進行后續系統升級,從而滿足您不斷增加的應用需求。通過加裝飛秒激光(Femtosecond Laser)模塊,Crossbeam的加工效率和尺度可進一步拓展,同時可以滿足多種微納加工需求。無論是在科研實驗室或工業環境中工作,抑或是單用戶或多用戶工作環境,都能提供高質量的解決方案。
 

一、[產品特點]

1、低電壓下獲得高分辨率電子圖像;

2、可實現大尺寸到納米精度的切割;

3、批量自動制備TEM薄片樣品;

4、Atlas 5可創建多尺度、多模式綜合圖像;

5、ToF-SIMS 實現高通量3D成分分析;

6、無漏磁電子鏡筒實現真正邊切邊看;

7、不導電樣品不受荷電效應影響;

8、加裝飛秒激光模塊,實現亞毫米級快速加工,同時有效避免腔室污染;
 

二、[應用領域]

1、生命科學,如斷層掃描,三維重構;

2、電池領域,如組分表征;

3、半導體領域,如失效分析,電路修復;

4、金屬領域,如界面分析,亞表面分析;

5、材料科學,如晶體微觀結構分析,微納圖形加工;

6、透射電鏡、原子探針(ATP)、EBSD、微納力學等多種樣品的原位制備。
 

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