cmi243鍍層測(cè)厚儀

1、采用基于相位的電渦流技術(shù)，集測(cè)量精密、價(jià)格合理、質(zhì)量優(yōu)勢(shì)于一體的手持式測(cè)厚儀。

2、為金屬表面處理者設(shè)計(jì)。配置的單探頭可測(cè)量，鐵質(zhì)底上金屬鍍層-即使在小的、幾何形狀的或表面粗糙的樣品上都可以進(jìn)行測(cè)量。

3、易于用戶控制，并且可以同X線熒光測(cè)儀的準(zhǔn)確性和精密性。

4、為了讓客戶能以低成本購買243E免去了對(duì)多探頭、操作培訓(xùn)和持續(xù)保養(yǎng)的需要。

測(cè)量技術(shù)：

一般的測(cè)試方法，例如一般測(cè)厚儀制造商所采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式，由于探頭的" 升離效應(yīng)" 導(dǎo)致的底材效應(yīng)，和由于測(cè)試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾，都無法達(dá)到對(duì)金屬性鍍層厚度的測(cè)量。

牛津儀器將基于相位的電渦流技術(shù)應(yīng)用到243E,使其達(dá)到了±3%以內(nèi)（對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片）的準(zhǔn)確度和0.3% 以內(nèi)的精確度。

牛津儀器對(duì)電渦流技術(shù)的應(yīng)用，將底材效應(yīng)最小化，使得測(cè)量準(zhǔn)確且不受零件的幾何形狀影響。

另外，儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進(jìn)行校準(zhǔn)。

cmi243鍍層測(cè)厚儀

測(cè)量范圍：

技術(shù)參數(shù)及功能：

ECP-M探頭規(guī)格(mm)

243E是一款靈便、易用的儀器，為金屬表面處理者設(shè)計(jì)。配置的單探頭可測(cè)量鐵質(zhì)底上金屬鍍層-即使在小的、幾何形狀的或表面粗糙的樣品上都可以進(jìn)行測(cè)量。這款測(cè)厚儀是緊固件行業(yè)應(yīng)用的工具。采用基于相位的電渦流技術(shù)。

243E手持式測(cè)厚儀易于用戶控制，并且可以同X射線熒光測(cè)厚儀的準(zhǔn)確性和精密性。為了讓客戶能以低成本購買。OXFORD-243E免去了對(duì)多探頭、操作培訓(xùn)和持續(xù)保養(yǎng)的需要。

牛津涂層測(cè)厚儀

牛津儀器公司提供高一般的測(cè)試方法，例如一般測(cè)厚儀制造商所采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式，由于探頭的" 升離效應(yīng)" 導(dǎo)致的底材效

應(yīng)，和由于測(cè)試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾，都無法達(dá)到對(duì)金屬性鍍層厚度的測(cè)量。

牛津儀器將基于相位的電渦流技術(shù)應(yīng)用到243E,使其達(dá)到了±3%以內(nèi)（對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片）的準(zhǔn)確度和0.3% 以內(nèi)的精確度。牛津儀器對(duì)電渦流技術(shù)的應(yīng)用，將底材效應(yīng)小化，使得測(cè)量值且不受零件的幾何形狀影響。另外，儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進(jìn)行校準(zhǔn)。ECP-M探頭為較難測(cè)量的金屬覆層設(shè)計(jì)，此單探頭可以測(cè)量鐵質(zhì)底材上金屬覆層，例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探針為小的、幾何形狀的或表面粗糙的零件提供了便捷的測(cè)量。