亚洲AV成人片无码网站玉蒲团,男人10处有痣是富贵痣,AV亚洲欧洲日产国码无码苍井空,日韩午夜欧美精品一二三四区

您好, 歡迎來到化工儀器網

| 注冊| 產品展廳| 收藏該商鋪

13761038296

products

首頁>>上海波銘科學儀器有限公司>>產品展示>>半導體材料測試>>體微缺陷測試

  • SIRM紅外體微缺陷分析儀 參考價：面議

    SIRM是非接觸和非破壞型光學檢測設備，對體微缺陷，如氧化物和金屬沉淀，位錯、堆垛層錯，體材料中的滑線和空隙等進行測試。這個技術也可對GaAs 和 InP等復合...
    型號： 廠商性質：生產商所在地：上海市 對比
    體微缺陷測試
    2024/12/19 14:31:59223

  • LST體微缺陷測試設備 參考價：面議

    LST是檢測半導體材料的體微缺陷有力工具，通過CCD相機，對入射光在樣品邊沿的散射進行掃描，獲得體微缺陷分布信息。
    型號： 廠商性質：生產商所在地：上海市 對比
    體微缺陷測試
    2024/12/19 14:30:13221
1共1頁,2條記錄 跳轉

會員登錄

請輸入賬號

請輸入密碼

=

請輸驗證碼

收藏該商鋪

標簽：
保存成功

(空格分隔,最多3個,單個標簽最多10個字符)

常用：

提示

您的留言已提交成功！我們將在第一時間回復您~
在線留言