目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>光譜系統(tǒng)>>顯微缺陷膜厚>> 紫外分光輻射照度測量系統(tǒng) New
照度、輻照度
光譜數(shù)據(jù)(光譜輻照度)
其他測量項目
三刺激值 XYZ、色度坐標 xy、uv、
u’v’相關色溫、Duv、主波長、刺激純度 顯色指數(shù) Ra、R1 至 R15峰值波長、半寬光子通量密度 PFD、光合光子磁通密度PPFD
* 1:參考值。照度頭是
根據(jù)使用高斜入射特性類型的 220-850 nm 檢測器的A 光源測量結果估算的。根據(jù)檢測器和照度頭組合的變化
* 2:出廠時用于設備校準的標準燈。非設備附件
* 3:JCSS 可溯源
* 4:可選附件,請參考總光通量測量系統(tǒng)的規(guī)格頁面。
探測器、光纖和照度頭的配置,包括數(shù)據(jù)處理單元。
用于進行基本測量的最小配置的組合。
在基本配置中添加直流電源的配置。電源也由測量軟件共同控制。
測量樣品時可以進行 LIV 測量和脈沖測量。
* 請參閱可控直流電源的規(guī)格。
這是用筒燈LED測量是否有可見光以外的紫外光的例子。
由波形可知,不包含400nm以下的紫外線。
這是在戶外測量陽光的示例。
我們評估可見光、UV-A、UV-B 和 UV-C 的比率。
輸出在短波長范圍內急劇下降,在 450 nm 處達到藍色峰值。
可以看出,UV-A光的輸出量減少了,但含有超過一定的值。
UV-B輸出很小,但可以說沒有UV-C輸出。