澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。
澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡 參考價：600000
澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅需鼠標即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調節光闌。
ZEM18臺式掃描電子顯微鏡 參考價：面議
ZEM18臺式掃描電子顯微鏡信號采集帶寬高達10M，掃描速度快，視頻模式下實時觀察樣品，無重影、拖影，不錯過每一個細節。
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 參考價：面議
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡采用自主研發的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內連續可調，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺，實...
ZEM20臺式掃描電子顯微鏡 參考價：面議
ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅需鼠標即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調節光闌。
半自動臺階儀 JS100A 參考價：面議
國產半自動臺階儀 JS100A，國產臺階儀擁有高精度、高分解能，搭配一體花崗巖結構，提供穩定可靠的重復性測量。
ZEM15臺式掃描電子顯微鏡 參考價：面議
ZEM15臺式掃描電子顯微鏡采用自主研發的鎢燈絲電子槍,加速電壓在1-15kV范圍內連續可調，可同時搭配二次電子探測器,散射電子探測器。
手動臺階儀 JS10A 參考價：面議
?國產手動臺階儀 JS10A，穩定可靠的重復性測量，采用金剛石探針，無畸變的觀察樣品區，實時觀察掃描區域，突破三個核心技術，國內研發生產，便于售后服務。【支持定...
全自動臺階儀 JS1000A 參考價：面議
國產全自動臺階儀 JS1000A，擁有高精度、高分解能，搭配一體花崗巖結構，提供穩定可靠的重復性測量。
ZP3-4 微納探針臺 參考價：面議
ZP3-4 微納探針臺探針數量：4個探頭，每個探頭配備一個三軸探針臂;自由度：每個探頭獨立驅動（X、Y、Z三自由度）。
SEM納米探針臺 參考價：面議
SEM納米探針臺產品實現了三維空間上的準確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡單，能在真空下使用等優點，可應于SEM真空腔體內完成各種納米精度運動操...
室溫自動探針臺 TZ-H-06 參考價：面議
室溫自動探針臺 TZ-H-06高可靠性探針臺系統，主要應用在半導體/微電子， 電子，機電，物理，化學，材料，光電，納米，微機電/MEMs，生物芯片等科學研究領域...
液氦低溫恒溫器 參考價：面議
超低震動干式液氦光學液氦低溫恒溫器，使用氣體導熱隔震，實現樣品臺納米級的機械穩定性。為有效降低環境震動影響，產品設計安裝在光學隔震平臺上。
手動探針臺系統 參考價：面議
手動探針臺系統可定制手動探針臺 系統，整套系統包配置有探針臺主體、顯微鏡、針座、探針線纜、探針等。
干式液氦溫區探針臺 LHe-6H-06 參考價：面議
干式液氦溫區探針臺 LHe-6H-06真空腔體：真空度優于6×10-4 Pa。降溫后優于6×10-5 Pa。留有2個用戶法蘭接口（KF40可...
透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可...
透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在...
透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射...
透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學...
透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環境，實現1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體。
掃描電鏡原位氣氛加熱環境測量系統 參考價：面議
掃描電鏡原位氣氛加熱環境測量系統將MEMS氣氛環境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環境并且可以對實驗樣品原位加熱。
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統 參考價：面議
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統是原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括力、熱、光、電...
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統 參考價：面議
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統采用全新的O圈輔助密封設計，攻克了以往原位液體解決方案裝樣困難的問題。
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