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| 窗口類型 | 無窗 | 分辨率 | 126eVeV |
|---|---|---|---|
| 峰背比 | NA | 價格區間 | 面議 |
| 探測器類 | 硅漂移探測器（SDD） | 探測器面積 | 60 mm2 ( 4 × 15 mm2)mm |
| 儀器種類 | 進口 | 應用領域 | 醫療衛生,環保,生物產業,能源,綜合 |
| 最大計數率 | 大于4,000,000 cpscps | 元素檢測范圍 | B (5) to Am (95) |
產品簡介
詳細介紹
FlatQUAD布魯克能譜儀是一款平插式探測器.置于掃描電鏡極靴和樣品之間。四塊硅漂移品體成環形排列于中心孔四周，入射電子束從中心孔穿過。適用于不同的工作距離并具有優異的性能。
OUANTAX FlatQUAD是基于革命性的XFlash' FlatQUAD探測器的EDS微區分析系統。這一*設計的環形四通道SDD探測器工作時位于掃描電鏡極靴和樣品之間，能夠獲得EDS分析較大的固體角。結合ESPRIT分析軟件QUANTAXFlatQUAD系統對于傳統斜插式能譜很難分析的樣品，可提供優的元素面分布效果。
使用新的探測器技術
QUANTAX FlarQUAD系統的核心一-XFlash FlarCUAD探測探測福配置了不同厚度的特殊聚合物窗口，可吸收不同器?；谛路f的探測器設計理念.安裝于掃描電鏡樣晶加速 電壓下的背散射電子。倉的水平接口，使探測器置于電鏡極靴和樣品之間。而傳統的探測器則采用電鏡的傾斜接口。XFlash" FlatOUAD探測器能夠與不同類型的掃描電鏡兼容。
FlatQUAD布魯克能譜儀探測器的探頭組件中，四個獨立的硅漂移芯片成環形排列于中心孔四周，入射電子束從該中心孔穿過。探測器材料經過特殊選擇.避免對電子束產生影響.保證高質量的電鏡圖像。
