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應用領域 | 醫療衛生,電子,汽車,電氣,綜合 |
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技術規格
產品概述
PID測試潛在電勢誘導衰減(potential Induced Degradation),組件長期在高電壓工作,在蓋板玻璃、封裝材料、邊框之間存在漏電流,大量電荷聚集在電池片表面,使得電池片表面的鈍化效果惡化,導致填充因子、短路電流、開路電壓降低,使組件性能低于設計標準;PID測試目的是為驗證組件經受高強度電壓性能變化的能力。銘電推出的PID測試系統滿足標準IEC61215-2 MQT21,簡潔、高效、使用便捷靈活,極大地方便用戶進行PID的測試實驗。
主要特點
● 滿足標準 IEC61215-2 MQT21
● 多路輸出,可根據實際需求自由選擇搭配輸出通道數量
● 各通道電壓獨立設定輸出,極性可獨立設定
● 通道真正獨立,若其中一通道發生故障不影響其他通道工作
● 電壓設定范圍從 -2000V~+2000V 可連續設定,其他規格輸出電壓可定制選配
● 漏電流報警設置從 0-500μA
● 可以監測環境試驗箱溫度 & 濕度(需提供試驗箱通訊指令)
● 測試時間可根據實際需求自由設定
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